[實用新型]測試裝置

有效

• 申請號: 201020003847.2
• 申請日: 2010-01-12
• 公開（公告）號: CN201654765U
• 公開（公告）日: 2010-11-24
• 發明（設計）人: 楊慶文;余建國;紀樂宇;陳曉光;楊世揚
• 申請（專利權）人: 名碩電腦(蘇州)有限公司;和碩聯合科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 任永武

技術領域

本實用新型涉及一種測試裝置，且特別涉及一種具有轉檔功能的測試裝置。

背景技術

無功能芯片的轉接卡在電子裝置中廣為應用。譬如，無功能芯片的轉接卡可與主機板進行連接從而為電腦的主機提供輸入輸出接口。由此，外部裝置能夠與主機板進行連接以傳輸數據。因此，轉接卡上連接接口的質量將直接影響外部裝置與主機板之間數據的傳輸質量。

現有技術中針對無功能芯片的轉接卡進行測試時，首先需將轉接卡連接至電子裝置的主機板，然后開機運行特定的程序，從而對轉接卡上的待測接口進行測試。然而，此種測試方法由于需要開機運行特定的程序，存在測試工時長、操作復雜等問題。并且，一種特定的程序只能測試一種待測接口，因此，針對不同類型的待測接口，需要編寫不同的程序，導致測試成本的增加。

實用新型內容

本實用新型提供一種測試裝置，以避免測試工時長、操作復雜從而降低測試成本。

本實用新型提供一種測試裝置，用于測試無功能芯片的轉接卡。轉接卡具有待測接口和輸出接口。測試裝置包括控制元件和轉檔元件。控制元件電性連接轉接卡。控制元件發出測試信號至待測接口，并從輸出接口接收輸出信號。控制元件判斷輸出信號與測試信號是否一致，據此產生測試結果。轉檔元件電性連接控制元件以接收測試結果并提供轉檔信息。

本實用新型有益效果為：通過判斷輸出信號與測試信號是否一致從而測試無功能芯片的轉接卡的待測接口是否良好。相較于先前技術，本實用新型提供的測試裝置測試工時短、操作簡單。并且，轉檔元件對測試結果可實現自動轉檔，使用者通過轉檔信息即可知道測試結果，從而便于產線上的管理。

附圖說明

為讓本實用新型的上述和其它目的、特征和優點能更明顯易懂，下面將結合附圖對本實用新型的較佳實施例作詳細說明，其中：

圖1所示為本實用新型第一較佳實施例的測試裝置的功能方塊圖。

圖2所示為本實用新型第一較佳實施例的轉檔元件的轉檔程序的執行流程圖。

圖3所示為本實用新型第二較佳實施例的測試裝置的功能方塊圖。

圖4所示為本實用新型第二較佳實施例的轉檔元件的轉檔程序的執行流程圖。

具體實施方式

圖1所示為本實用新型第一較佳實施例的測試裝置的功能方塊圖。請參考圖1。本實施例所提供的測試裝置1用于測試無功能芯片的轉接卡2。

于本實施例中，轉接卡2具有一個待測接口21和一個輸出接口22。輸出接口22電性連接待測接口21。然而，本實用新型對待測接口21和輸出接口22的數量不作任何限定。

于本實施例中，待測接口21為MINI接口，輸出接口22為USB接口。然而，本實用新型對此不作任何限定。于其它實施例中，待測接口21可為音頻接口、VGA接口或者DVI接口等。

于本實施例中，測試裝置1包括控制元件11、轉檔元件12、指示元件13、轉接元件14以及終端元件15。控制元件11電性連接轉接卡2的待測接口21。轉檔元件12和指示元件13分別電性連接控制元件11。轉接元件14耦接控制元件11和轉接卡2的輸出接口22。終端元件15電性連接轉檔元件12。

于本實施例中，控制元件11具有輸出接口111和輸入接口112。輸出接口111的類型對應于待測接口21的類型，于本實施例中即為MINI接口。于本實施例中，控制元件11為單芯片，其內儲存有測試程序。通過測試程序，控制元件11可從輸出接口111發出測試信號至待測接口21，輸入接口112通過轉接元件14從轉接卡2的輸出接口22接收輸出信號，然后控制元件11判斷輸出信號與測試信號是否一致，據此產生測試結果。

于本實施例中，轉檔元件12包括顯示元件121和復位電路122。顯示元件121可顯示轉檔元件12接收的測試結果和多個關于測試步驟的提示信息。于本實施例中，顯示元件121可為液晶顯示屏幕。然而，本實用新型對此不作任何限定。復位電路122可連接復位鍵(圖未示)，當待測接口21不良時可按下復位鍵，由此觸發復位電路122以復位轉檔元件12。

于本實施例中，轉檔元件12為SBC(simple?board?computer)，其上插設儲存有轉檔程序的CF卡(compact?flash)(圖未示)。由此，轉檔元件12可進行SFIS(shop?floor?integrated?system)轉檔并提供轉檔信息。關于轉檔元件12中轉檔程序的具體原理容后詳述。