[實用新型]測試裝置有效
| 申請號: | 201020003847.2 | 申請日: | 2010-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN201654765U | 公開(公告)日: | 2010-11-24 |
| 發明(設計)人: | 楊慶文;余建國;紀樂宇;陳曉光;楊世揚 | 申請(專利權)人: | 名碩電腦(蘇州)有限公司;和碩聯合科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 任永武 |
| 地址: | 215011 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 裝置 | ||
1.一種測試裝置,用于測試無功能芯片的轉接卡,所述轉接卡具有待測接口和輸出接口,其特征是,所述測試裝置包括:
控制元件,電性連接所述轉接卡,所述控制元件發出測試信號至所述待測接口,并從所述輸出接口接收輸出信號,所述控制元件判斷所述輸出信號與所述測試信號是否一致,據此產生測試結果;以及
轉檔元件,電性連接所述控制元件以接收所述測試結果并提供轉檔信息。
2.根據權利要求1所述的測試裝置,其特征是,所述測試裝置還包括指示元件,電性連接所述控制元件,用于指示所述測試結果。
3.根據權利要求1所述的測試裝置,其特征是,所述測試裝置還包括轉接元件,所述轉接元件耦接所述控制元件和所述轉接卡的所述輸出接口。
4.根據權利要求3所述的測試裝置,其特征是,所述轉接元件為另一無功能芯片的轉接卡。
5.根據權利要求1所述的測試裝置,其特征是,所述測試裝置還包括終端元件,所述終端元件電性連接所述轉檔元件以接收并顯示所述轉檔信息。
6.根據權利要求1所述的測試裝置,其特征是,所述測試信號為電壓信號。
7.根據權利要求1所述的測試裝置,其特征是,所述轉檔元件包括顯示元件,用于顯示所述測試結果與多個提示信息。
8.根據權利要求1所述的測試裝置,其特征是,所述轉檔元件包括復位電路,用于當所述待測接口不良時復位所述轉檔元件。
9.根據權利要求1所述的測試裝置,其特征是,所述待測接口為MINI接口。?
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