[實(shí)用新型]電路板選切測(cè)試電路以及電視機(jī)測(cè)試電路

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201020001314.0
• 申請(qǐng)日: 2010-01-04
• 公開（公告）號(hào): CN201577167U
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫有新;黃國(guó)鵬;陳興鋒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 青島海信電器股份有限公司
• 主分類號(hào): H04N17/04
• 分類號(hào): H04N17/04;H04N17/00;G01R31/28
• 代理公司: 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種電路板選切測(cè)試電路，其特征在于：包括至少兩路與電路板相連的LVDS信號(hào)輸出端、信號(hào)選切轉(zhuǎn)換模塊以及與測(cè)試裝置相連的測(cè)試信號(hào)輸出端，每路所述LVDS信號(hào)輸出端與一個(gè)電路板相連，其中：

所述LVDS信號(hào)輸出端用于接收所述電路板發(fā)出的LVDS信號(hào)并將所述LVDS信號(hào)輸入所述信號(hào)選切轉(zhuǎn)換模塊；

所述信號(hào)選切轉(zhuǎn)換模塊用于將所述LVDS信號(hào)輸出端輸入的LVDS信號(hào)處理為至少兩路所述測(cè)試裝置可識(shí)別的測(cè)試信號(hào)，并從所述測(cè)試信號(hào)中選擇一路，然后通過所述測(cè)試信號(hào)輸出端輸入所述測(cè)試裝置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板選切測(cè)試電路，其特征在于：所述信號(hào)選切轉(zhuǎn)換模塊包括至少兩個(gè)信號(hào)轉(zhuǎn)換單元、信號(hào)選擇單元以及選擇控制單元，每個(gè)所述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元與一路所述LVDS信號(hào)輸出端相連，其中：

所述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元用于將每路所述LVDS信號(hào)輸出端輸入的LVDS信號(hào)均轉(zhuǎn)換為一路數(shù)字RGB格式的測(cè)試信號(hào)，然后將所述測(cè)試信號(hào)輸入所述信號(hào)選擇單元；

所述信號(hào)選擇單元用于接收所述選擇控制單元輸入的控制指令并根據(jù)所述控制指令，從所述測(cè)試信號(hào)中選擇一路，然后通過所述測(cè)試信號(hào)輸出端將所述測(cè)試信號(hào)輸入所述測(cè)試裝置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板選切測(cè)試電路，其特征在于：所述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元為DS90CF388芯片。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板選切測(cè)試電路，其特征在于：所述信號(hào)選擇單元包括FPGA芯片、有源晶振模塊以及程序存儲(chǔ)模塊，其中：

所述FPGA芯片用于接收控制指令并根據(jù)所述控制指令，從所述測(cè)試信號(hào)中選擇一路，然后通過所述測(cè)試信號(hào)輸出端將所述測(cè)試信號(hào)輸入所述測(cè)試裝置；

所述有源晶振模塊用于為所述FPGA芯片提供時(shí)鐘基準(zhǔn)；

所述程序存儲(chǔ)模塊用于存儲(chǔ)軟件程序和/或數(shù)據(jù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路板選切測(cè)試電路，其特征在于：所述FPGA芯片為EP3C5F256C8芯片。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板選切測(cè)試電路，其特征在于：所述選擇控制單元包括工控機(jī)以及與所述工控機(jī)相連的電平輸出單元，其中：

所述工控機(jī)用于接收用戶輸入的控制命令，并根據(jù)所述控制命令對(duì)所述電平輸出單元輸出控制指令；

所述電平輸出單元用于接收所述控制指令，并根據(jù)所述控制指令通過對(duì)所述FPGA芯片輸入高電平或低電平信號(hào)的方式控制所述FPGA芯片。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的多路電壓切換電路，其特征在于：所述電平輸出單元為51系列單片機(jī)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板選切測(cè)試電路，其特征在于：所述LVDS信號(hào)的格式為VESA、JEIDA其中的一種或兩種。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板選切測(cè)試電路，其特征在于：所述電路板為電視機(jī)主板，所述測(cè)試裝置為工控機(jī)。

10.一種電視機(jī)測(cè)試電路，其特征在于：包括上述權(quán)利要求1至9任一所述電路板選切測(cè)試電路。