[實用新型]電路板選切測試電路以及電視機測試電路

無效

• 申請號: 201020001314.0
• 申請日: 2010-01-04
• 公開（公告）號: CN201577167U
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發明（設計）人: 孫有新;黃國鵬;陳興鋒
• 申請（專利權）人: 青島海信電器股份有限公司
• 主分類號: H04N17/04
• 分類號: H04N17/04;H04N17/00;G01R31/28
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

技術領域

本實用新型屬于電子技術領域，具體涉及一種電路板選切測試電路以及設有該電路板選切測試電路的電視機測試電路。

背景技術

隨著電子技術的不斷發展，電視機已經成為人們日常生活中最為常見的家用電器之一。

電視機內的電路板上的各種功能模塊或功能器件組裝好后，需要對電路板進行測試，測試合格之后才能出廠。如圖1所示，現有的電路板測試電路，包括與電路板1相連的LVDS信號輸出端4、信號轉換模塊6、測試信號輸出端5以及測試裝置3，每路LVDS信號輸出端4與一個電路板1相連，其中：

信號轉換模塊6用于從LVDS信號輸出端4接收LVDS信號并將LVDS信號轉化為測試裝置3可識別的格式的測試信號后通過測試信號輸出端5輸入測試裝置3，測試裝置3用于將測試信號輸出端5輸入的測試信號進行數據比較，判斷電路板1輸出的LVDS信號是否正確，從而判斷電路板1的性能是否正常。

一個電路板1測試完成之后，要將LVDS信號輸出端4連接到另一路測試裝置3測試其他功能，整個電路板1測試完成之后，要將LVDS信號輸出端4連接到另一個電路板1，然后依次對剩下的其他電路板1逐個進行測試。

本發明人在實現本實用新型的過程中發現，現有技術至少存在以下問題：

由于現有技術中測試完一塊如圖1所示的電路板1之后，測試其他電路板1時需要將LVDS信號輸出端4重新連接電路板1或測試裝置3，當需要大批量測試電路板1時，則需要頻繁的改變LVDS信號輸出端4所連接的電路板1或測試裝置3，不僅操作麻煩而且易出現接線錯誤，導致測試效率比較低。

實用新型內容

本實用新型實施例提供了一種電路板選切測試電路以及電視機測試電路，解決了現有的電路板選切測試電路測試效率比較低的技術問題。

為達到上述目的，本實用新型的實施例采用如下技術方案：

該電路板選切測試電路，包括至少兩路與電路板相連的LVDS信號輸出端、信號選切轉換模塊以及與測試裝置相連的測試信號輸出端，每路所述LVDS信號輸出端與一個電路板相連，其中：

所述LVDS信號輸出端用于接收所述電路板發出的LVDS信號并將所述LVDS信號輸入所述信號選切轉換模塊；

所述信號選切轉換模塊用于將所述LVDS信號輸出端輸入的LVDS信號處理為至少兩路所述測試裝置可識別的測試信號，并從所述測試信號中選擇一路，然后通過所述測試信號輸出端輸入所述測試裝置。

進一步，所述信號選切轉換模塊包括至少兩個信號轉換單元、信號選擇單元以及選擇控制單元，每個所述信號轉換單元與一路所述LVDS信號輸出端相連，其中：

所述信號轉換單元用于將每路所述LVDS信號輸出端輸入的LVDS信號均轉換為數字RGB格式的測試信號，然后將所述測試信號輸入所述信號選擇單元；

所述信號選擇單元用于接收所述選擇控制單元輸入的控制指令并根據所述控制指令，從所述測試信號中選擇一路，然后通過所述測試信號輸出端將所述測試信號輸入所述測試裝置。

進一步，所述信號轉換單元為DS90CF388芯片。

進一步，所述信號選擇單元包括FPGA芯片、有源晶振模塊以及程序存儲模塊，其中：

所述FPGA芯片用于接收控制指令并根據所述控制指令，從所述測試信號中選擇一路，然后通過所述測試信號輸出端將所述測試信號輸入所述測試裝置；

所述有源晶振模塊用于為所述FPGA芯片提供時鐘基準；

所述程序存儲模塊用于存儲軟件程序和/或數據。

進一步，所述FPGA芯片為EP3C5F256C8芯片。

進一步，所述選擇控制單元包括工控機以及與所述工控機相連的電平輸出單元，其中：

所述工控機用于接收用戶輸入的控制命令，并根據所述控制命令對所述電平輸出單元輸出控制指令；

所述電平輸出單元用于接收所述控制指令，并根據所述控制指令通過對所述FPGA芯片輸入高電平或低電平信號的方式控制所述FPGA芯片。

進一步，所述電平輸出單元為51系列單片機。

進一步，所述LVDS信號的格式為VESA、JEIDA其中的一種或兩種。

進一步，所述電路板為電視機主板，所述測試裝置為工控機。

該電視機測試電路，包括上述本實用新型實施例所提供的電路板選切測試電路。

與現有技術相比，本實用新型所提供上述技術方案中的任一技術方案具有如下優點：