[發明專利]用電感耦合等離子體發射光譜儀測定純銀中雜質的方法

無效

• 申請號: 201010623793.4
• 申請日: 2010-12-31
• 公開（公告）號: CN102565029A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 閆雅坤;陳曉宇;韓鵬
• 申請（專利權）人: 北京有色金屬與稀土應用研究所
• 主分類號: G01N21/73
• 分類號: G01N21/73
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 朱麗華

1.一種用電感耦合等離子體發射光譜儀測定純銀中雜質的方法，其特征在于：選擇硫酸溶解待測純銀樣品，其后用鹽酸沉淀溶液中存在的銀離子，采用基體分離的方法測定高純銀中的痕量雜質元素。

2.根據權利要求1所述的用電感耦合等離子體發射光譜儀測定純銀中雜質的方法，其特征在于具體方法如下：

1)加入硫酸溶解待測純銀試樣；

2)待試樣完全溶解后，加鹽酸，煮沸至澄清，冷卻，分離試樣的基體銀；

3)沉淀細化；

4)補加10％的鹽酸，用去離子水定容到刻度；

5)啟動電感耦合等離子體發射光譜儀，打開分析控制軟件，點擊“點火”按鈕，形成穩定的等離子炬焰，然后進行全波段掃描，完成光路校正后，選擇進入數據控制程序，選擇待測元素的譜線，設定曲線濃度值，依次濃度由低到高將標準曲線溶液進行測定，測定后即可在數據狀態欄得出相關參數。

3.根據權利要求1所述的用電感耦合等離子體發射光譜儀測定純銀中雜質的方法，其特征在于：所述步驟3中的沉淀細化具體方法是把步驟2中得到的冷卻液放入超聲震蕩儀中，震蕩7分鐘以上，冷卻至室溫后將試液過濾于100毫升容量瓶中，補加10％鹽酸，用去離子水定容到刻度。

4.根據權利要求2所述的用電感耦合等離子體發射光譜儀測定純銀中雜質的分析方法，其特征在于：標準曲線溶液以10％的鹽酸為介質，各元素Cu、Fe、Mn、Mg、Ca、Zn、La、Ni、Se、Te、Co、Be、Sb、As、Pb、Sn、Pd、Pt、Al、Ce、Ge、Si、In、Bi濃度分別為0.00～X.00μg/ml。

5.根據權利要求1所述的用電感耦合等離子體發射光譜儀測定純銀中雜質的分析方法，其特征在于：進行全波段掃描后，用10μg/ml的錳標液進行光路系統校正。

6.根據權利要求1所述的用電感耦合等離子體發射光譜儀測定純銀中雜質的分析方法，其特征在于：在萬級潔凈實驗室中進行，加入的硫酸及鹽酸均為優級純試劑，所用去離子水為18.2兆歐級。