[發明專利]電性連接缺陷仿真測試方法及其系統

有效

• 申請號: 201010622347.1
• 申請日: 2010-12-30
• 公開（公告）號: CN102565603A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 蔡蘇威;劉明賢
• 申請（專利權）人: 德律科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

1.一種電性連接缺陷模擬測試方法，其特征在于包含下列步驟：

提供一待測組件，該待測組件包含多個接腳群組，各該等接腳群組包含多個信號接腳；

使一信號饋入裝置傳送一零頻率信號至各該等信號接腳，使仿真一開路狀態；

對各該等信號接腳進行一開路測試程序；

使該待測組件的該等接腳群組的該等信號接腳與一開關多組相連接；

控制該開關多組以使該等接腳群組其中之一的任二該等信號接腳進行電性連接，使模擬一短路狀態；以及

相對電性連接的任二該等信號接腳進行一短路測試程序。

2.如權利要求1所述的電性連接缺陷模擬測試方法，其特征在于各該等接腳群組具有互異的邏輯電位。

3.如權利要求1所述的電性連接缺陷模擬測試方法，其特征在于該零頻率信號為一直流信號或一三態(Tri-state)信號。

4.如權利要求1所述的電性連接缺陷模擬測試方法，其特征在于該信號饋入裝置包含一探針以及一信號產生裝置，該零頻率信號由該信號產生裝置借由該探針傳送至各該等信號接腳。

5.如權利要求1所述的電性連接缺陷模擬測試方法，其特征在于該信號饋入裝置為一邊界掃瞄(Boundary?Scan)芯片，與該待測電路板的各該等信號接腳相接，該零頻率信號由該邊界掃瞄芯片產生。

6.如權利要求1所述的電性連接缺陷模擬測試方法，其特征在于該開關多組更包含多個接腳驅動模塊，控制該開關多組以使該等接腳群組其中之一的任二該等信號接腳進行電性連接步驟更包含使該等接腳驅動模塊提供一仿真電源信號至電性連接的任二該等信號接腳其中之一，使模擬一電源短路狀態。

7.如權利要求1所述的電性連接缺陷模擬測試方法，其特征在于該開關多組更包含多個接腳驅動模塊，控制該開關多組以使該等接腳群組其中之一的任二該等信號接腳進行電性連接的步驟更包含使該等接腳驅動模塊提供一仿真接地信號至電性連接的任二該等信號接腳其中之一，使模擬一接地短路狀態。

8.一種電性連接缺陷仿真測試系統，其特征在于用以對一待測組件進行仿真測試，該待測組件包含多個接腳群組，各該等接腳群組包含多個信號接腳，該電性連接缺陷仿真測試系統包含：

一信號饋入裝置，用以傳送一零頻率信號至各該等信號接腳，使仿真一開路狀態；以及

一開關多組，用以與該待測組件的該等接腳群組的該等信號接腳相連接，且使該等接腳群組其中之一的任二該等信號接腳進行電性連接，使模擬一短路狀態。

9.如權利要求8所述的電性連接缺陷仿真測試系統，其特征在于各該等接腳群組具有互異的邏輯電位。

10.如權利要求8所述的電性連接缺陷仿真測試系統，其特征在于該零頻率信號為一直流信號或一三態信號。

11.如權利要求8所述的電性連接缺陷仿真測試系統，其特征在于該信號饋入裝置包含一探針以及一信號產生裝置，該零頻率信號由該信號產生裝置借由該探針傳送至各該等信號接腳。

12.如權利要求8所述的電性連接缺陷仿真測試系統，其特征在于該信號饋入裝置為一邊界掃瞄芯片，與該待測電路板的各該等信號接腳相接，該零頻率信號由該邊界掃瞄芯片產生。

13.如權利要求8所述的電性連接缺陷仿真測試系統，其特征在于該開關多組更包含多個接腳驅動模塊，提供一仿真電源信號至電性連接的任二該等信號接腳其中之一，使模擬一電源短路狀態。

14.如權利要求8所述的電性連接缺陷仿真測試系統，其特征在于該開關多組更包含多個接腳驅動模塊，提供一仿真接地信號至電性連接的任二該等信號接腳其中之一，使模擬一接地短路狀態。