[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置及其制造方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010614580.5 | 申請(qǐng)日: | 2010-12-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102157465A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-08-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 森本類 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 索尼公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/38 | 分類號(hào): | H01L23/38;H01L35/30;H01L35/32;H01L35/34 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人: | 陳桂香;武玉琴 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
相關(guān)申請(qǐng)的交叉參考
本申請(qǐng)包含與2010年1月13日向日本專利局提交的日本在先專利申請(qǐng)2010-004991的公開(kāi)內(nèi)容相關(guān)的主題,在這里將該在先申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容以引用的方式并入本文。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及具有諸如晶體管之類的有源部件的半導(dǎo)體裝置及其制造方法。
背景技術(shù)
近年來(lái),隨著CMOS技術(shù)的發(fā)展,晶體管的驅(qū)動(dòng)能力隨之增加,于是晶體管所產(chǎn)生的熱量成為問(wèn)題。
在MOS晶體管中,溫度每增加1℃,閾值電壓Vth則降低2mV,因此,與室溫狀態(tài)下相比,亞閾值(sub-threshold)電流在125℃狀態(tài)下增加兩個(gè)數(shù)位。所以,溫度控制在半導(dǎo)體裝置中非常重要。
在諸如CPU之類的高速邏輯裝置中,到目前為止,芯片一直通過(guò)安裝散熱片、風(fēng)扇等來(lái)散熱(例如,參照J(rèn)P-A-2000-307042(專利文獻(xiàn)1))。
上面的方法是從外部冷卻芯片的方法,當(dāng)發(fā)熱量隨著小型化的發(fā)展而進(jìn)一步增加時(shí),這種方法可能導(dǎo)致待機(jī)電流、TDDB(介電質(zhì)層崩潰的時(shí)間依存性(Time?Dependent?Dielectric?Breakdown))、電遷移等的增加,可能在裝置穩(wěn)定性方面引起重大問(wèn)題。
另一方面,在通過(guò)CMP(化學(xué)機(jī)械研磨)方法進(jìn)行平坦化所形成的半導(dǎo)體裝置中,由于層間絕緣膜的平坦化的原因而在半導(dǎo)體基板的表面上布置虛擬部件(例如,參照美國(guó)專利US7014955(專利文獻(xiàn)2))。
布置有虛擬部件的層是一種與CMP方法的平坦化有關(guān)的層,該層是有源區(qū)域、柵極、金屬虛擬部件等。但到目前為止還沒(méi)有考慮將虛擬部件作為有源部件使用。
于是,設(shè)計(jì)出了如下結(jié)構(gòu),即,在形成有半導(dǎo)體裝置的基板自身中布置冷卻功能部件(例如,參照J(rèn)P-A-2008-166725(專利文獻(xiàn)3))。
然而,上面的方法需要增加形成冷卻功能部件的過(guò)程,不滿足成本效率的容許性。
為解決上述問(wèn)題,提出了如下一種嘗試,即,在明確不增加過(guò)程的情況下,通過(guò)使用還未曾用作有源部件的虛擬柵極制造具有冷卻功能部件的裝置(例如,參照J(rèn)P-A-2001-156228(專利文獻(xiàn)4))。
然而,在專利文獻(xiàn)4中,并未說(shuō)明熱量吸收部和熱量產(chǎn)生部的具體結(jié)構(gòu),因此,此發(fā)明不具體、可行性不充分。
發(fā)明內(nèi)容
強(qiáng)烈期望提供一種能夠從基板表面進(jìn)行有效冷卻的具有冷卻裝置的半導(dǎo)體裝置和該半導(dǎo)體裝置的制造方法。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,提供一種能夠?qū)Ξa(chǎn)生的熱量進(jìn)行有效冷卻的半導(dǎo)體裝置及其制造方法。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的半導(dǎo)體裝置包括冷卻功能部件。
所述冷卻功能部件包括:有源區(qū)域,其是由雜質(zhì)區(qū)域制成,形成在半導(dǎo)體層的表面上;N型柵極,其是由包括N型雜質(zhì)的半導(dǎo)體制成;及P型柵極,其是由包括P型雜質(zhì)的半導(dǎo)體制成。所述冷卻功能部件還包括:第一金屬布線,其連接至所述N型柵極、所述P型柵極和所述有源區(qū)域;第二金屬布線,其連接至所述P型柵極和所述N型柵極;及散熱部,其連接至所述第二金屬布線,用于將熱量散發(fā)到外部。
根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的半導(dǎo)體裝置的制造方法包括以下步驟:在半導(dǎo)體層上形成半導(dǎo)體膜以成為柵極;將N型雜質(zhì)注入所述半導(dǎo)體膜的一部分中;將P型雜質(zhì)注入所述半導(dǎo)體膜的另一部分中。所述方法還包括以下步驟:通過(guò)圖案化所述半導(dǎo)體膜分別形成N型柵極和P型柵極;及在所述半導(dǎo)體層的表面上形成由雜質(zhì)區(qū)域制成的有源區(qū)域。所述方法還包括如下步驟:形成連接至所述N型柵極、所述P型柵極和所述有源區(qū)域的第一金屬布線;形成連接至所述P型柵極和所述N型柵極的第二金屬布線;及形成連接至所述第二金屬布線的散熱部,所述散熱部用于將熱量散發(fā)到外部。
在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的所述半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)中,所述冷卻功能部件包括連接至所述N型柵極、所述P型柵極和所述有源區(qū)域的所述第一金屬布線和連接至所述P型柵極和所述N型柵極的所述第二金屬布線。因此,當(dāng)供應(yīng)電壓使得電流依次流過(guò)所述N型柵極、所述第一金屬布線、所述P型柵極、所述第二金屬布線和所述N型柵極時(shí),在所述第一金屬布線處吸收熱量,在所述第二金屬布線處產(chǎn)生熱量。
由于吸收熱量的所述第一金屬布線連接至形成在所述半導(dǎo)體層的所述表面上的所述有源區(qū)域,所以能夠有效地冷卻熱的所述半導(dǎo)體層。
另外,由于產(chǎn)生熱量的所述第二金屬布線連接至用于將熱量散發(fā)到外部的所述散熱部,因此,能夠通過(guò)將熱量散發(fā)到外部有效地進(jìn)行冷卻。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于索尼公司,未經(jīng)索尼公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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