[發(fā)明專利]檢測(cè)電路延時(shí)和時(shí)序的方法及采用該方法校準(zhǔn)延時(shí)的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010600544.3
• 申請(qǐng)日: 2010-12-22
• 公開（公告）號(hào): CN102571041A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 董喬華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海華虹NEC電子有限公司
• 主分類號(hào): H03K5/13
• 分類號(hào): H03K5/13
• 代理公司: 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211
• 代理人: 丁紀(jì)鐵

1.一種檢測(cè)電路延時(shí)和時(shí)序的方法，其特征在于，包含如下步驟：

1)將主時(shí)序信號(hào)和待檢測(cè)的延時(shí)時(shí)序信號(hào)進(jìn)行邏輯與操作，產(chǎn)生測(cè)試時(shí)序信號(hào)；

2)利用第二計(jì)數(shù)器對(duì)所述測(cè)試時(shí)序信號(hào)的延時(shí)邊沿進(jìn)行計(jì)數(shù)，同時(shí)根據(jù)主時(shí)序信號(hào)的下降沿和第一個(gè)計(jì)數(shù)器產(chǎn)生使能信號(hào)，所述使能信號(hào)用于驅(qū)動(dòng)邏輯電路分時(shí)進(jìn)行采樣計(jì)數(shù)值，分析計(jì)數(shù)值并進(jìn)行判斷，所述計(jì)數(shù)使能信號(hào)的高電平時(shí)長(zhǎng)為所述主時(shí)序信號(hào)的固定周期；

3)采用以下標(biāo)準(zhǔn)對(duì)計(jì)數(shù)結(jié)果進(jìn)行判斷，當(dāng)計(jì)數(shù)值大于或等于所述固定周期時(shí)，判斷時(shí)序正確；當(dāng)計(jì)數(shù)值小于所述固定周期時(shí)，判斷時(shí)序錯(cuò)誤，其中時(shí)序正確表示延時(shí)小于主時(shí)序信號(hào)的周期；

4)變換主時(shí)序信號(hào)的周期，重復(fù)操作步驟1)至3)，通過多次逼近找到時(shí)序正確和時(shí)序錯(cuò)誤的臨界點(diǎn)，該臨界點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的周期即為所述待檢測(cè)的延時(shí)時(shí)序信號(hào)的實(shí)際延時(shí)。

2.按照權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述步驟2)中由第一計(jì)數(shù)器產(chǎn)生的使能信號(hào)有三個(gè)，從時(shí)序上分別為：當(dāng)?shù)谝粋€(gè)使能信號(hào)為高電平時(shí)，觸發(fā)所述第二個(gè)計(jì)數(shù)器采樣測(cè)試時(shí)序信號(hào)的延時(shí)邊沿；當(dāng)?shù)谝皇鼓苄盘?hào)變?yōu)榈碗娖剑诙鼓苄盘?hào)為高電平時(shí)，通過邏輯電路分析計(jì)數(shù)值的大小；當(dāng)?shù)诙鼓苄盘?hào)變?yōu)榈碗娖剑谌鼓苄盘?hào)為高電平時(shí)，根據(jù)計(jì)數(shù)值的大小判斷時(shí)序是否正確，給出標(biāo)志位，同時(shí)清零計(jì)數(shù)值。

3.按照權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于：在所述步驟二中還包括采用檢測(cè)時(shí)序信號(hào)來控制測(cè)試狀態(tài)和測(cè)試次數(shù)，所述檢測(cè)時(shí)序信號(hào)由第三計(jì)數(shù)器和所述主時(shí)序信號(hào)的下降沿產(chǎn)生；該檢測(cè)時(shí)序信號(hào)設(shè)置為每另一固定主時(shí)序信號(hào)周期增加一位，該另一固定主時(shí)序信號(hào)周期設(shè)置為大于第三使能信號(hào)的高電平時(shí)長(zhǎng)，且所述檢測(cè)時(shí)序信號(hào)的周期與所述第三使能信號(hào)的周期相同；在所述檢測(cè)時(shí)序信號(hào)中，至少一個(gè)周期用于穩(wěn)定時(shí)序，接下來的一個(gè)周期用于通過運(yùn)算產(chǎn)生測(cè)試和計(jì)數(shù)使能信號(hào)，所述計(jì)數(shù)使能信號(hào)用于和所述第一使能信號(hào)一起驅(qū)動(dòng)所述第二計(jì)數(shù)器采樣所述待測(cè)時(shí)序信號(hào)，再接下來至少有兩個(gè)周期對(duì)所述第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)結(jié)果進(jìn)行判斷，其中任意一次計(jì)數(shù)結(jié)果大于等于固定周期加允許的偏差值時(shí)，輸出標(biāo)志位置高，并停止計(jì)數(shù)和判斷。

4.按照權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于：當(dāng)所述待檢測(cè)的延時(shí)時(shí)序信號(hào)為所述主時(shí)序信號(hào)的上升沿延時(shí)時(shí)，所述延時(shí)邊沿為上升沿，即所述第二計(jì)數(shù)器對(duì)所述測(cè)試時(shí)序信號(hào)的上升沿進(jìn)行計(jì)數(shù)；當(dāng)所述待檢測(cè)的延時(shí)時(shí)序信號(hào)為所述主時(shí)序信號(hào)的下降沿延時(shí)時(shí)，所述延時(shí)邊沿為下降沿，即所述第二計(jì)數(shù)器對(duì)所述測(cè)試時(shí)序信號(hào)的下降沿進(jìn)行計(jì)數(shù)。

5.一種采用權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的檢測(cè)電路延時(shí)和時(shí)序的方法來校準(zhǔn)延時(shí)的方法，其特征在于：采用上述方法來檢測(cè)出電路的延時(shí)，之后根據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)延時(shí)的偏差進(jìn)行校準(zhǔn)調(diào)整，至調(diào)整后的電路延時(shí)達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)為止。

6.一種延時(shí)檢測(cè)電路，其特征在于：

包括測(cè)試時(shí)序信號(hào)產(chǎn)生電路，用于根據(jù)外部信號(hào)將主時(shí)序信號(hào)和待檢測(cè)的延時(shí)時(shí)序信號(hào)進(jìn)行邏輯與操作產(chǎn)生測(cè)試時(shí)序信號(hào)；

使能信號(hào)產(chǎn)生電路，用于根據(jù)所述主時(shí)序信號(hào)的下降沿和第一計(jì)數(shù)器產(chǎn)生使能信號(hào)，所述使能信號(hào)用于驅(qū)動(dòng)邏輯電路分時(shí)進(jìn)行采樣計(jì)數(shù)值，分析計(jì)數(shù)值并進(jìn)行判斷，所述計(jì)數(shù)使能信號(hào)的高電平時(shí)長(zhǎng)為所述主時(shí)序信號(hào)的固定周期；

第二計(jì)數(shù)器，用于根據(jù)所述使能信號(hào)對(duì)所述測(cè)試時(shí)序信號(hào)的延時(shí)邊沿進(jìn)行計(jì)數(shù)；

計(jì)數(shù)結(jié)果判斷模塊，用于在所述使能信號(hào)的作用下，通過所述邏輯電路分時(shí)進(jìn)行采樣計(jì)數(shù)值，分析計(jì)數(shù)值以及通過判斷給出標(biāo)志位，所述判斷標(biāo)準(zhǔn)為：當(dāng)計(jì)數(shù)值大于等于所述固定周期時(shí)，判斷時(shí)序正確；當(dāng)計(jì)數(shù)值小于所述固定周期時(shí)，判斷時(shí)序錯(cuò)誤，其中時(shí)序正確表示延時(shí)小于主時(shí)序信號(hào)的周期。

7.按照權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于：所述由第一計(jì)數(shù)器產(chǎn)生的使能信號(hào)有三個(gè)，從時(shí)序上分別為：當(dāng)?shù)谝粋€(gè)使能信號(hào)為高電平時(shí)，觸發(fā)所述第二個(gè)計(jì)數(shù)器采樣測(cè)試時(shí)序信號(hào)的延時(shí)邊沿；當(dāng)?shù)谝皇鼓苄盘?hào)變?yōu)榈碗娖剑诙鼓苄盘?hào)為高電平時(shí)，通過邏輯電路分析計(jì)數(shù)值的大小；當(dāng)?shù)诙鼓苄盘?hào)變?yōu)榈碗娖剑谌鼓苄盘?hào)為高電平時(shí)，根據(jù)計(jì)數(shù)值的大小判斷時(shí)序是否正確，給出標(biāo)志位，同時(shí)清零計(jì)數(shù)值。