[發明專利]削減板級物理測試點的測試方法

有效

• 申請號: 201010587165.5
• 申請日: 2010-12-14
• 公開（公告）號: CN102540046A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 趙怡
• 申請（專利權）人: 蘇州工業園區譜芯科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/3181
• 代理公司: 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 32235
• 代理人: 楊林潔

技術領域

本發明涉及一種削減板級物理測試點的測試方法，屬于集成電路板級生產測試領域。

背景技術

在線測試(In-Circuit?Test，ICT)被廣泛應用于電子制造企業，它的作用主要是通過夾具，以PCB上的測試點為接口，對PCB上的電子元器件進行電氣測試，以診斷電子元器件是否完好。

邊界掃描測試(Boundary?Scan?Test)是另一種測試方法，其定義了TAP(Test?Access?Port，測試訪問端口)的5個管腳：TDI(Test?Data?Input，測試數據輸入)、TDO(Test?Data?Output，測試數據輸出)、TCK(測試時鐘)、TMS(測試模式選擇)及TRST(測試復位，可選)，其中，TMS用來加載控制信息；另外，邊界掃描測試還定義了TAP控制器所支持的幾種測試模式，主要有外測試(EXTEST)、運行測試(RUNTEST)及內測試(INTEST)。使用時，將多個掃描器件的掃描鏈通過它們的TAP連在一起，就能夠形成一個連續的邊界寄存器鏈，在TDI加載測試信號就可以控制和測試所有相連的管腳。邊界掃描測試的虛擬引腳能夠代替ICT夾具對器件每個管腳的物理接觸。

由于傳統的在線測試要求每一個電路節點至少有一個測試點，隨著電路規模越來越大，所需的測試點越來越多，所以對應夾具制作復雜度也越來越高，測試時間越來越長，測試成本越來越高。

因此，有必要對現有的測試方法進行改良，提供一種兼具效率與成本的測試方法。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種測試成本低、測試時間短的削減板級物理測試點的測試方法。

為解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案：一種削減板級物理測試點的測試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

S1，提供待測電路板，所述待測電路板上安裝有若干電子元器件及對應的若干物理測試點；

S2，對待測電路板上的物理測試點進行篩選，以挑出若干可以被消減的物理測試點；

S3，運用在線測試對未被消減的物理測試點進行測試，另外，輔助利用邊界掃描測試對可以被消減的物理測試點進行測試。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件，其中，這兩個邊界掃描器件引腳直連的網線上的物理測試點可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的一個邊界掃描器件與一個存儲器器件，其中，邊界掃描器件與存儲器器件之間的物理測試點可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的邊界掃描器件、存儲器器件、及位于邊界掃描器件與存儲器器件之間的一個或者多個電阻，其中，邊界掃描器件與電阻之間的物理測試點可以被消減，電阻與存儲器器件之間的物理測試點也可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件及位于這兩個邊界掃描器件之間的緩沖器，其中，每一個邊界掃描器件與緩沖器之間的物理測試點均可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括分別通過兩個電容而相互連接的兩個邊界掃描器件，其中，以差分線相連的電容與邊界掃描器件之間的物理測試點可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件，其中，這兩個邊界掃描器件之間以差分線相連的物理測試點可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件及并聯電阻，其中，這兩個邊界掃描器件之間以并聯電阻相連的物理測試點均可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件、及位于兩個邊界掃描器件之間的中間隔上拉電阻或者中間隔下拉電阻，其中，邊界掃描器件與中間隔上拉電阻或者中間隔下拉電阻之間的物理測試點均可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的邊界掃描器件、存儲器器件及中間隔上拉電阻，其中，邊界掃描器件與中間隔上拉電阻之間的物理測試點可以被消減。

作為本發明的進一步改進，若干電子元器件包括相互連接的邊界掃描器件與中間隔上拉電阻或者中間隔下拉電阻，其中，邊界掃描器件與中間隔上拉電阻或者中間隔下拉電阻之間的物理測試點可以被消減。