[發明專利]削減板級物理測試點的測試方法

有效

• 申請號: 201010587165.5
• 申請日: 2010-12-14
• 公開（公告）號: CN102540046A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 趙怡
• 申請（專利權）人: 蘇州工業園區譜芯科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/3181
• 代理公司: 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 32235
• 代理人: 楊林潔

1.?一種削減板級物理測試點的測試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

S1，提供待測電路板，所述待測電路板上安裝有若干電子元器件及對應的若干物理測試點；

S2，對待測電路板上的物理測試點進行篩選，以挑出若干可以被消減的物理測試點；

S3，運用在線測試對未被消減的物理測試點進行測試，另外，輔助利用邊界掃描測試對可以被消減的物理測試點進行測試。

2.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件，其中，這兩個邊界掃描器件引腳直連的網線上的物理測試點可以被消減。

3.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的一個邊界掃描器件與一個存儲器器件，其中，邊界掃描器件與存儲器器件之間的物理測試點可以被消減。

4.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的邊界掃描器件、存儲器器件、及位于邊界掃描器件與存儲器器件之間的一個或者多個電阻，其中，邊界掃描器件與電阻之間的物理測試點可以被消減，電阻與存儲器器件之間的物理測試點也可以被消減。

5.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件及位于這兩個邊界掃描器件之間的緩沖器，其中，每一個邊界掃描器件與緩沖器之間的物理測試點均可以被消減。

6.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括分別通過兩個電容而相互連接的兩個邊界掃描器件，其中，以差分線相連的電容與邊界掃描器件之間的物理測試點可以被消減。

7.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件，其中，這兩個邊界掃描器件之間以差分線相連的物理測試點可以被消減。

8.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件及并聯電阻，其中，這兩個邊界掃描器件之間以并聯電阻相連的物理測試點均可以被消減。

9.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的兩個邊界掃描器件、及位于兩個邊界掃描器件之間的中間隔上拉電阻或者中間隔下拉電阻，其中，邊界掃描器件與中間隔上拉電阻或者中間隔下拉電阻之間的物理測試點均可以被消減。

10.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的邊界掃描器件、存儲器器件及中間隔上拉電阻，其中，邊界掃描器件與中間隔上拉電阻之間的物理測試點可以被消減。

11.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括相互連接的邊界掃描器件與中間隔上拉電阻或者中間隔下拉電阻，其中，邊界掃描器件與中間隔上拉電阻或者中間隔下拉電阻之間的物理測試點可以被消減。

12.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括連接在一起的兩個邊界掃描器件、兩個下拉電阻及兩個電容，其中，邊界掃描器件與下拉電阻之間以差分線相連的物理測試點可以被消減，連接下拉電阻與電容之間的物理測試點也可以被消減。

13.?如權利要求1所述的測試方法，其特征在于：若干電子元器件包括連接在一起的兩個邊界掃描器件、下拉電阻及電容，其中，連接下拉電阻與電容的物理測試點可以被消減。