[發(fā)明專利]一種制備多晶硅太陽能電池發(fā)射極的擴散方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010584827.3 | 申請日: | 2010-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN102148284A | 公開(公告)日: | 2011-08-10 |
| 發(fā)明(設計)人: | 湯安民;梅曉東;石峰軍;姜平;董艷輝 | 申請(專利權)人: | 浙江晶科能源有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 浙江杭州金通專利事務所有限公司 33100 | 代理人: | 吳關炳 |
| 地址: | 314416 浙江省嘉*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 制備 多晶 太陽能電池 發(fā)射極 擴散 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明屬于多晶硅太陽能電池技術領域,特別是涉及一種多晶硅太陽能電池發(fā)射極的制備方法。
背景技術
晶體硅電池利用P-N結的光生伏特效應實現(xiàn)光→電轉換。由于其使用壽命長,具有低碳和綠色環(huán)保等優(yōu)點,將成為將來代表性新能源。目前商業(yè)化的晶體硅電池主要工藝流程為:硅片表面清洗和損傷層去除,表面減反射絨面的形成→利用擴散的方法形成P-N結→邊結和PSG的去除→表面減反射膜的沉積和鈍化作用→背電極、鋁背場和正面電極的印刷→利用燒結使得電極和硅片之間形成良好的歐姆接觸→測試分檢。這種常規(guī)電池由于其工藝簡單和便于大規(guī)模生產(chǎn),從而具有較低的成本,成為現(xiàn)在主流的商業(yè)化電池。
P-N結被認為是太陽能電池的“心臟”。P-N結形成質量對硅電池性能有重要影響。現(xiàn)在一些高效電池(如SE電池)也主要是改進發(fā)射極來提高效率。有研究表明:P-N結對電池效率的影響最大。在現(xiàn)有熱擴散工藝下,P-N結的形成質量主要受擴散溫度、時間、磷源濃度等因素的影響。當這些因素之間的關系達到最優(yōu)值,才能夠提供良好的電性能參數(shù)。因此,在常規(guī)工藝的基礎上通過優(yōu)化發(fā)射極磷雜質的分布曲線,可以在不增加成本的前提下獲得硅電池效率的提升,具有重要的意義。
目前硅電池行業(yè)使用熱擴散法制備P-N結,按照擴散過程中溫度來看:有恒溫工藝(圖1)和變溫工藝(圖2)之分。恒溫工藝指一次升高到某個溫度,進行擴散。而變溫工藝主要指在擴散過程中使用不同的溫度,目前主要使用低溫預沉積和升溫擴散的過程。但無論是恒溫工藝還是變溫工藝,其都是基于一次通源。一次通源擴散過程,磷雜質在硅體內的分布一般符合高斯分布和余誤差分布。單純的通過變化溫度,濃度或者時間都很難改變其在硅片內部的摻雜曲線,優(yōu)化程度有限。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種多晶硅太陽能電池發(fā)射極制備方法,采用多次通源擴散來達到改善其雜質分布曲線;以便在現(xiàn)有生產(chǎn)線條件下,提高多晶硅太陽能電池的效率。
本發(fā)明實現(xiàn)上述目的所采取的技術方案是,一種制備多晶硅太陽能電池發(fā)射極的擴散方法,包括至少兩次有源擴散。
作為一種優(yōu)選,所述的擴散方法包括兩次有源擴散,第二次擴散相對第一次擴散溫度高10-60℃,升溫速率為0.67℃/min-12℃/min。
作為進一步的優(yōu)選,所述的擴散方法包括兩次有源擴散,步驟如下:
⑴?預氧化:在800-840℃對硅片表面進行預氧化處理,控制時間為5-15min,氧氣比例以體積百分計為3%-25%;
⑵?一次擴散:在800-840℃,使用液態(tài)POCl3磷源,通入大N、氧氣和小N的混合氣體,對硅片進行第一次有源擴散,控制時間為10-30min,小N比例以體積百分計為5%-15%;
⑶?升溫并一次雜質再分布:在不通源且在氧氣保護下,將溫度升高到850-900℃,進行第一次雜質的再分布,控制時間為5-15min,氧氣比例以體積百分計為3%-25%;
⑷?二次擴散:在850-900℃,使用液態(tài)POCl3磷源,通入大N、氧氣和小N的混合氣體,對硅片進行第二次有源擴散,控制時間為10-30min,小N比例以體積百分計為5%-15%;
⑸?二次雜質再分布:在850-900℃、不通源且在氧氣保護下,進行第二次雜質再分布,控制時間為0-15min,氧氣比例以體積百分計為3%-25%;
⑹?冷卻:在氧氣保護下降溫冷卻,控制氧氣比例以體積百分計為3%-25%,然后取出硅片;
所述的大N為用于稀釋和推進混合氣體,使得混合氣體快速充滿爐管的大宗N2,所述的小N為用于攜帶POCl3進入爐管的小宗N2。
作為一種優(yōu)選,所述的擴散方法包括三次有源擴散,第二次擴散溫度相對第一次擴散溫度高10-40℃,升溫速率為0.67℃/min-8℃/min;第三次擴散溫度相對第二次擴散溫度高10-40℃,升溫速率為0.67℃/min-8℃/min。
作為進一步的優(yōu)選,所述的擴散方法包括三次有源擴散,步驟如下:
⑴?預氧化:在800-830℃對硅片表面進行預氧化處理,控制時間為5-15min,氧氣比例以體積百分計為3%-25%;
⑵?一次擴散:在800-830℃,使用液態(tài)POCl3磷源,通入大N、氧氣和小N的混合氣體,對硅片進行第一次有源擴散,控制時間為10-30min,小N比例以體積百分計為5%-15%;
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





