[發明專利]一種密封結構零件的檢漏方法無效
| 申請號： | 201010583256.1 | 申請日： | 2010-12-10 |
| 公開（公告）號： | CN102564709A | 公開（公告）日： | 2012-07-11 |
| 發明（設計）人： | 吳東旭;王祥 | 申請（專利權）人： | 中國航空工業集團公司第六三一研究所 |
| 主分類號： | G01M3/22 | 分類號： | G01M3/22 |
| 代理公司： | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人： | 商宇科 |
| 地址： | 710068 *** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 密封 結構 零件 檢漏 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種密封結構零件的檢漏方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：
1)將待檢零件接入氦質譜檢漏儀；
2)對待檢零件和氦質譜檢漏儀抽真空；
3)對待檢零件噴吹氦氣；
4)根據氦質譜檢漏儀輸出儀表的指示情況對待檢零件進行密封檢驗。
2.根據權利要求1所述的密封結構零件的檢漏方法，其特征在于：所述氦質譜檢漏儀在使用前將其抽至真空狀態。
3.根據權利要求2所述的密封結構零件的檢漏方法，其特征在于：所述步驟4)中氦質譜檢漏儀輸出儀表的指示情況是中質譜檢漏儀輸出儀表是否進行偏轉。
4.根據權利要求1或2或3所述的密封結構零件的檢漏方法，其特征在于：所述步驟4)中對待檢零件進行密封檢驗的標準是：
判斷氦質譜檢漏儀輸出儀表是否有指示，若有指示，則待檢零件被噴吹氦氣的部位密封不嚴；若沒有指示，則待檢零件被噴吹氦氣的部位密封嚴實。
5.根據權利要求4所述的密封結構零件的檢漏方法，其特征在于：所述質譜檢漏儀輸出儀表偏轉的大小確定檢出漏孔的漏率的大小。
6.根據權利要求1所述的密封結構零件的檢漏方法，其特征在于：所述氦質譜檢漏儀是采用檢漏靈敏度不低于1.33×10-10Pa.L/s的氦質譜檢漏儀。
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