[發(fā)明專利]光拾取裝置和光盤裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010573404.1
• 申請(qǐng)日: 2010-11-30
• 公開（公告）號(hào): CN102194485A
• 公開（公告）日: 2011-09-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 山崎和良;川村友人
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 日立視聽媒體股份有限公司
• 主分類號(hào): G11B7/135
• 分類號(hào): G11B7/135;G11B7/09
• 代理公司: 北京尚誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是涉及光拾取裝置和光盤裝置的發(fā)明。

背景技術(shù)

作為本技術(shù)領(lǐng)域的背景技術(shù)，例如有專利文獻(xiàn)1，作為課題記載了“從具有多個(gè)記錄層的光盤精度良好地取得所要求的信號(hào)”，作為解決方法記載了：“從光源單元51出射的P偏光的光束在光盤15反射，成為S偏光后入射到透鏡61。然后在1/4波長板62、63中，均對(duì)入射到光軸的+X一側(cè)的光束付與+1/4波長的光學(xué)的相位差，對(duì)入射到-X一側(cè)的光束付與-1/4波長的光學(xué)相位差。由此，通過1/4波長板63的信號(hào)光成為S偏光，雜散光成為P偏光，在偏光光學(xué)元件64中僅透過信號(hào)光。”。

此外，專利文獻(xiàn)2中，作為“目的在于提供在多層光盤的記錄再現(xiàn)中聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)均不會(huì)受到來自其他層的雜散光的影響，能夠獲得穩(wěn)定的伺服信號(hào)的光拾取裝置”，記載了“將來自多層光盤的反射光分割為多個(gè)區(qū)域，被分割的光束在光檢測器上的不同位置聚焦，并且使用多個(gè)被分割的光束通過刀口法檢測出聚焦誤差信號(hào)，使用多個(gè)被分割的光束檢測出跟蹤誤差信號(hào)。進(jìn)而以聚焦在目的層時(shí)來自其他層的雜散光不會(huì)進(jìn)入光檢測器的伺服信號(hào)用的受光面的方式配置光束的分割區(qū)域和受光面。

專利文獻(xiàn)1：日本特開2006-344344號(hào)公報(bào)

專利文獻(xiàn)2：日本特開2009-170060號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

光拾取裝置，一般而言為了在位于光盤內(nèi)的規(guī)定的記錄軌道上正確地照射光斑，通過聚焦誤差信號(hào)的檢測使物鏡在聚焦方向上位移，在聚焦方向上進(jìn)行調(diào)整，此外檢測出跟蹤誤差信號(hào)，使物鏡在光盤的半徑方向上位移，進(jìn)行跟蹤調(diào)整。通過上述伺服信號(hào)進(jìn)行物鏡的位置控制。

上述伺服信號(hào)中，關(guān)于跟蹤誤差信號(hào)，如果是存在多個(gè)記錄層的多層光盤時(shí)具有較大的問題。多層光盤中，在目標(biāo)記錄層反射的信號(hào)光之外，在非目標(biāo)的多個(gè)記錄層反射的雜散光同樣入射到受光部。信號(hào)光和雜散光入射到受光部時(shí)，光束之間發(fā)生干涉，其變動(dòng)成分被檢測為跟蹤誤差信號(hào)。

對(duì)于該問題，在專利文獻(xiàn)1中，構(gòu)成為使被光盤反射的光束被聚光鏡匯聚，使透過兩枚1/4波長板和偏光光學(xué)元件而擴(kuò)展的光被聚光鏡匯聚，使雜散光不會(huì)入射到檢測器。因此，存在檢測光學(xué)系統(tǒng)變得復(fù)雜，光拾取裝置的尺寸變大的問題。

此外，專利文獻(xiàn)2中，構(gòu)成為通過光檢測器上的多個(gè)受光部檢測再現(xiàn)信號(hào)，因此加上將光變換為電信號(hào)時(shí)產(chǎn)生的噪聲。從而，減少再現(xiàn)信號(hào)的噪聲，即提高S/N成為課題。

本發(fā)明的目的在于提供在記錄/再現(xiàn)具有多個(gè)信息記錄面的信息記錄介質(zhì)的情況下，與以往相比能夠減少再現(xiàn)信號(hào)的噪聲，并且獲得穩(wěn)定的伺服信號(hào)，進(jìn)而能夠?qū)崿F(xiàn)小型化的光拾取裝置和搭載了它的光盤裝置。

上述目的能夠通過專利權(quán)利要求的范圍記載的發(fā)明而達(dá)成。本發(fā)明的光拾取裝置，其特征在于，包括：出射激光的半導(dǎo)體激光器；將從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束對(duì)光盤照射的物鏡；和對(duì)從光盤上的信息記錄層反射的光束進(jìn)行檢測的一個(gè)光檢測器，其中，上述光檢測器中用于檢測再現(xiàn)信號(hào)的受光部為一個(gè)。

本發(fā)明的另一方面的光拾取裝置，其特征在于，包括：出射激光的半導(dǎo)體激光器；將從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束對(duì)光盤照射的物鏡；使光束分束的衍射光柵；和具有對(duì)從光盤上的信息記錄層反射的光束進(jìn)行檢測的多個(gè)受光部的一個(gè)光檢測器，其中，上述光檢測器中用于檢測再現(xiàn)信號(hào)的受光部為一個(gè)，從用于檢測再現(xiàn)信號(hào)的受光部之外的受光部生成伺服控制用信號(hào)。

本發(fā)明的另一方面的光拾取裝置，其特征在于，包括：出射激光的半導(dǎo)體激光器；將從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束對(duì)光盤照射的物鏡；用于使上述物鏡在上述光盤半徑方向上位移的致動(dòng)器；使從光盤上的信息記錄層反射的光束分束為多個(gè)區(qū)域的衍射光柵；和具有接收被上述衍射光柵的多個(gè)區(qū)域分束的光束的多個(gè)受光部的一個(gè)光檢測器，其中，上述光檢測器具有對(duì)上述衍射光柵的0級(jí)光柵衍射光進(jìn)行檢測的第一受光部，和對(duì)±1級(jí)光柵衍射光以上級(jí)數(shù)的光柵衍射光進(jìn)行檢測的多個(gè)第二受光部，將檢測上述衍射光柵的0級(jí)光柵衍射光而得到的信號(hào)作為再現(xiàn)信號(hào)，將檢測±1級(jí)光柵衍射光以上級(jí)數(shù)的光柵衍射光而得到的信號(hào)作為伺服控制用信號(hào)。

本發(fā)明的光盤裝置，其特征在于，搭載有：上述的光拾取裝置；對(duì)上述光拾取裝置內(nèi)的上述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的激光器點(diǎn)亮電路；使用從上述光拾取裝置內(nèi)的上述光檢測器檢測出的信號(hào)生成聚焦誤差信號(hào)或跟蹤誤差信號(hào)的伺服信號(hào)生成電路；和對(duì)記錄在光盤中的信息信號(hào)進(jìn)行再現(xiàn)的信息信號(hào)再現(xiàn)電路。

根據(jù)本發(fā)明，能夠提供在記錄/再現(xiàn)具有多個(gè)信息記錄面的信息記錄介質(zhì)的情況下，與以往相比能夠減少再現(xiàn)信號(hào)的噪聲，并且獲得穩(wěn)定的伺服信號(hào)，進(jìn)而能夠?qū)崿F(xiàn)小型化的光拾取裝置和搭載了它的光盤裝置。