[發明專利]光拾取裝置和光盤裝置

無效

• 申請號: 201010573404.1
• 申請日: 2010-11-30
• 公開（公告）號: CN102194485A
• 公開（公告）日: 2011-09-21
• 發明（設計）人: 山崎和良;川村友人
• 申請（專利權）人: 日立視聽媒體股份有限公司
• 主分類號: G11B7/135
• 分類號: G11B7/135;G11B7/09
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

1.一種光拾取裝置，其特征在于，包括：

出射激光的半導體激光器；

將從所述半導體激光器出射的光束對光盤照射的物鏡；和

對從光盤上的信息記錄層反射的光束進行檢測的一個光檢測器，其中

所述光檢測器中用于檢測再現信號的受光部為一個。

2.一種光拾取裝置，其特征在于，包括：

出射激光的半導體激光器；

將從所述半導體激光器出射的光束對光盤照射的物鏡；

使光束分束的衍射光柵；和

具有對從光盤上的信息記錄層反射的光束進行檢測的多個受光部的一個光檢測器，其中

所述光檢測器中用于檢測再現信號的受光部為一個，

從用于檢測再現信號的受光部之外的受光部生成伺服控制用信號。

3.一種光拾取裝置，其特征在于，包括：

出射激光的半導體激光器；

將從所述半導體激光器出射的光束對光盤照射的物鏡；

用于使所述物鏡在所述光盤半徑方向上位移的致動器；

使從光盤上的信息記錄層反射的光束分束為多個區域的衍射光柵；和

具有接收被所述衍射光柵的多個區域分束的光束的多個受光部的一個光檢測器，其中

所述光檢測器具有對所述衍射光柵的0級光柵衍射光進行檢測的第一受光部，和對±1級光柵衍射光以上級數的光柵衍射光進行檢測的多個第二受光部，

將檢測所述衍射光柵的0級光柵衍射光而得到的信號作為再現信號，將檢測±1級光柵衍射光以上級數的光柵衍射光而得到的信號作為伺服控制用信號。

4.如權利要求3所述的光拾取裝置，其特征在于：

在焦點聚焦在所述光盤的目的信息記錄層的情況下，所述光檢測器的所述多個第二受光部，配置在從所述光盤的目的信息記錄層以外的記錄再現層反射的光束的0級光柵衍射光的外側。

5.如權利要求3或4所述的光拾取裝置，其特征在于：

在焦點聚焦在所述光盤的目的信息記錄層的情況下，所述光檢測器的所述第一受光部，配置在從所述光盤的目的信息記錄層以外的記錄再現層反射的光束的±1級光柵衍射光以上級數的光柵衍射光的外側。

6.如權利要求3～5中任一項所述的光拾取裝置，其特征在于：

所述光檢測器的所述第二受光部配置為以所述光檢測器的所述第一受光部為大致中心的大致圓弧或大致圓形形狀。

7.如權利要求3～6中任一項所述的光拾取裝置，其特征在于：

在焦點聚焦在所述光盤的目的信息記錄層的情況下，來自所述目的信息記錄層的反射光束，在所述光檢測器的受光部上聚焦。

8.如權利要求3～7中任一項所述的光拾取裝置，其特征在于：

所述衍射光柵的0級光柵衍射光的光量比±1級光柵衍射光以上級數的光柵衍射光的光量大。

9.如權利要求3～8中任一項所述的光拾取裝置，其特征在于：

所述衍射光柵具有區域A、區域B、區域C至少三個區域，

由所述光盤上的軌道衍射而成的盤衍射光中，

0級盤衍射光入射到所述區域A，

至少±1級盤衍射光入射到所述區域B，

在所述光檢測器，基于所述衍射光柵區域A、B、C的0級光柵衍射光檢測出再現信號，并且，

對所述區域A的+1級光柵衍射光或-1級光柵衍射光進行檢測的受光部中，至少兩個受光部在與所述光盤的切線方向大致一致的方向上呈大致一條直線地排列。

10.如權利要求3～9中任一項所述的光拾取裝置，其特征在于：

所述衍射光柵具有區域A、區域B、區域C至少三個區域，

由所述光盤上的軌道衍射而成的盤衍射光中，

0級盤衍射光入射到所述區域A，

至少±1級盤衍射光入射到所述區域B，

在所述光檢測器，基于所述衍射光柵區域A、B、C的0級光柵衍射光檢測出再現信號，并且，

所述第二受光部的對所述區域B的1級光柵衍射光或-1級光柵衍射光進行檢測的受光部中，至少兩個受光部在與所述光盤的半徑方向大致一致的方向上呈大致一條直線地排列。