[發明專利]內嵌式測試模組及其診斷方法

無效

• 申請號: 201010570305.8
• 申請日: 2010-12-02
• 公開（公告）號: CN102467974A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發明（設計）人: 鄧力銘;邢育肇
• 申請（專利權）人: 厚翼科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 上海宏威知識產權代理有限公司 31250
• 代理人: 金利琴

1.一種內嵌式測試模組，其特征在于：包含：

一連接埠；

一記憶體，該記憶體電性連接所述連接埠并且該記憶體用來儲存一第一資料，其中該記憶體依據該第一資料測試以形成一第二資料，并由所述連接埠傳輸該第二資料；以及一測試單元，該測試單元執行一測試命令或另一測試命令產生所述第一資料以及對應于該第一資料的一預期資料，其中，該測試單元通過所述連接埠傳輸該第一資料給所述記憶體，并自所述連接埠接收所述第二資料，通過與所述預期資料比對，當所述第二資料與該預期資料相異時，則立即輸出一錯誤資訊給外部的一自動測試設備，其中，所述測試命令與所述另一測試命令編碼為一組碼字。

2.如權利要求1所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述測試單元包含一控制單元、一序列產生單元、一測試圖樣產生單元，其中所述控制單元控制所述測試單元的運作并接收所述組碼字，該序列產生單元用來解碼所述組碼字并產生相對應的一測試流程，所述測試圖樣產生單元用來將該測試流程轉換成所述記憶體可辨識的所述第一資料以及產生所述預期資料，并比對所述第二資料及預期資料。

3.如權利要求2所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述記憶體執行所述測試流程以形成所述第二資料。

4.如權利要求3所述的內嵌式測試模組，其特征在于：當所述第二資料及預期資料不相符時，即中止所述測試流程。

5.如權利要求2所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述控制單元包含一控制器及一掃描器。

6.如權利要求2所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述序列產生單元包含一測試命令解碼器及一測試序列產生器。

7.如權利要求2所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述測試圖樣產生單元包含一測試圖樣產生器、一預期資料比較器以及一提前中斷單元。

8.如權利要求2所述的內嵌式測試模組，其特征在于：更包含一溫度感測器電性連接所述測試單元，該溫度感測器測量所述記憶體的一溫度。

9.如權利要求8所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述記憶體執行所述測試流程以形成所述第二資料，當所述第二資料及預期資料不相符時，所述溫度及記憶體的一存取時間范圍儲存至所述記憶體中，并且該溫度及存取時間范圍會被輸出至所述自動測試設備以進行分類及錯誤分析。

10.如權利要求2所述的內嵌式測試模組，其特征在于：更包含一頻率產生器電性連接所述記憶體及測試單元，該測試單元依據所述測試命令設定所述頻率產生器的一頻率，使所述記憶體在該頻率下操作。

11.如權利要求10所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述記憶體執行所述測試流程以形成所述第二資料，當所述第二資料及預期資料不相符時，所述頻率及記憶體的一存取時間范圍儲存至所述記憶體中，并且所述頻率及存取時間范圍會被輸出至所述自動測試設備以進行分類及錯誤分析。

12.如權利要求2所述的內嵌式測試模組，其特征在于：更包含一電壓穩壓器電性連接所述記憶體及測試單元，該測試單元依據所述測試命令設定該電壓穩壓器的一電壓，使所述記憶體在該電壓下操作。

13.如權利要求12所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述記憶體執行所述測試流程以形成所述第二資料，當所述第二資料及預期資料不相符時，所述電壓及記憶體的一存取時間范圍儲存至該記憶體中，并且所述電壓及存取時間范圍會被輸出至所述自動測試設備以進行分類及錯誤分析。

14.如權利要求1所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述錯誤資訊包含分類資訊及測試結果，且該錯誤資訊可被儲存記錄于記憶體中。

15.如權利要求1所述的內嵌式測試模組，其特征在于：更包含另一組碼字，其中所述組碼字與該另一組碼字串接以形成一測試流程。

16.如權利要求1所述的內嵌式測試模組，其特征在于：所述記憶體為非揮發性記憶體。