[發明專利]縱波裂縫預測與剝層方法無效
| 申請號： | 201010567725.0 | 申請日： | 2010-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN102478662A | 公開（公告）日： | 2012-05-30 |
| 發明（設計）人： | 李向陽;狄幫讓;王尚旭 | 申請（專利權）人： | 中國石油天然氣集團公司;中國石油大學(北京) |
| 主分類號： | G01V1/00 | 分類號： | G01V1/00;G01V1/28;G01V1/36;E21B49/00 |
| 代理公司： | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人： | 任默聞 |
| 地址： | 100007 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 縱波 裂縫 預測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種縱波裂縫預測與剝層方法，其特征在于，所述的方法包括：
輸入地震數據；
對所述地震數據進行剝層處理；
獲得單層TIH介質的AMR；
對所述單層TIH介質進行AMR交繪分析和TIH參數反演。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的對所述地震數據進行剝層處理包括：利用各向同性射線追蹤方法進行剝層和通過正常時差校正完成剝層。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的利用各向同性射線追蹤進行剝層包括：預處理過程和剝層循環過程。
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述預處理過程包括：
在四條線的交點上找到相應的四個CDP道集，在每個道集上分別做速度分析，建立速度模型；
在未做動校正的CDP道集上進行旅行時拾取，建立所有介質層的旅行時表；
做各向同性的射線追蹤，建立每一層介質的偏移距-射線段分量表；
對第一層介質進行如下計算：
完成交繪分析，利用單層的方法確定將和存在一張表中；
其中，line1、line2、line3、line4分別表示四條線；layer1表示第一層介質；表示第一層介質的裂縫方位角。
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