[發(fā)明專利]一種存儲器測試方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010549541.1
• 申請日: 2010-11-18
• 公開（公告）號: CN102467973A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李崇仁;劉平;查錦;崔小樂
• 申請（專利權(quán)）人: 北京大學(xué)深圳研究生院
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44281
• 代理人: 宋鷹武

1.一種存儲器測試裝置，用于對存儲器的被測陣列進行測試，其特征在于，包括控制器、信號發(fā)生器、與所述被測陣列相連的執(zhí)行器；所述信號發(fā)生器在所述控制器控制下，產(chǎn)生測試信號并通過所述執(zhí)行器輸入到所述被測陣列使其產(chǎn)生功耗以形成所述被測陣列測試所需的測試溫度。

2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述執(zhí)行器包括與所述被測陣列的行相連接的第一執(zhí)行器以及與所述被測陣列的列相連接的第二執(zhí)行器，所述信號發(fā)生器在控制器的作用下產(chǎn)生的測試信號包括老化測試信號，所述老化測試信號包括行測試信號和列測試信號，所述行測試信號通過所述第一執(zhí)行器輸入到所述被測陣列以使所述被測陣列產(chǎn)生靜態(tài)功耗，所述列測試信號通過第二執(zhí)行器輸入到所述被測陣列以使所述被測陣列產(chǎn)生動態(tài)功耗。

3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第一執(zhí)行器和第二執(zhí)行器為MOS管或者三極管。

4.如權(quán)利要求1-3任一所述的裝置，其特征在于，還包括老化爐，用于對所述被測陣列進行進一步加溫，使其達到預(yù)設(shè)的測試溫度。

5.一種存儲器測試方法，其特征在于包括如下步驟：

控制器發(fā)出測試命令，使所述存儲器的被測陣列處于測試狀態(tài)；

信號發(fā)生器接收到所述測試命令后，產(chǎn)生相應(yīng)的所述測試信號；

執(zhí)行器接收到所述測試信號后，將其輸入所述被測陣列使所述被測陣列產(chǎn)生功耗以形成所述被測陣列測試所需的測試溫度，從而得到測試結(jié)果。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測試命令包括使所述執(zhí)行器處于開啟狀態(tài)的使能命令，還包括靜態(tài)功耗測試命令和動態(tài)功耗測試命令；所述測試信號包括老化測試信號，所述老化測試信號包括行測試信號和列測試信號；所述執(zhí)行器包括與所述被測陣列的行相連接的第一執(zhí)行器以及與所述被測陣列的列相連接的第二執(zhí)行器。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述信號發(fā)生器接收到的測試命令不包含所述動態(tài)功耗測試命令時，則只產(chǎn)生所述行測試信號，否則，產(chǎn)生所述行測試信號和列測試信號。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述信號發(fā)生器接收到的測試命令包含所述動態(tài)功耗測試命令時，所述信號發(fā)生器先產(chǎn)生行測試信號并通過第一執(zhí)行器輸入到所述被測陣列，待所述被測陣列上的存儲單元都達到其開啟電壓時，信號發(fā)生器產(chǎn)生列測試信號并將其通過第二執(zhí)行器輸入到所述被測陣列以產(chǎn)生動態(tài)功耗。

9.如權(quán)利要求5-8任一所述的方法，其特征在于，所述行測試信號的值為1。

10.如權(quán)利要求5-8任一所述的方法，其特征在于，所述列測試信號為振蕩信號。

11.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述測試命令還包括老化測試命令和功能測試命令，所述測試信號還包括功能測試信號；所述被測陣列相鄰布置，所述信號發(fā)生器接收到所述測試命令后，判斷是否同時包含老化測試命令和功能測試命令，如果是，則所述信號發(fā)生器產(chǎn)生相應(yīng)的所述老化測試信號并通過相應(yīng)的執(zhí)行器輸入到所述需要進行老化測試的被測陣列，待其達到預(yù)設(shè)的溫度后，所述信號發(fā)生器產(chǎn)生功能測試信號對需要進行功能的被測陣列進行相應(yīng)的功能測試，其中所述進行老化測試的陣列將功耗產(chǎn)生的溫度傳遞給進行功能測試的陣列以使進行功能測試的陣列達到功能測試所需的測試溫度；否則，則只產(chǎn)生相應(yīng)的所述老化測試信號并通過相應(yīng)的執(zhí)行器輸入所述被測陣列。

12.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述測試命令還包括老化測試命令和功能測試命令，所述測試信號還包括功能測試信號；所述存儲器的同一陣列同時進行老化測試和功能測試命令時，信號發(fā)生器產(chǎn)生相應(yīng)的所述老化測試信號并通過相應(yīng)的所述執(zhí)行器發(fā)送給所述同一陣列中需要進行老化測試的行和列，待其達到預(yù)設(shè)的溫度后，信號發(fā)生器產(chǎn)生功能測試信號對所述同一陣列需要進行功能測試的行和列進行功能測試，其中所述進行老化測的行和列將功耗產(chǎn)生的溫度傳遞給進行功能測試的行和列以使所述進行功能測試的陣列達到功能測試所需的測試溫度。

13.如權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，所述陣列為分割式位線連接。