[發明專利]可抗電弧沖蝕的銀基-不含鎘復合材的電接點材料無效
| 申請號: | 201010535380.0 | 申請日: | 2010-11-04 |
| 公開(公告)號: | CN102467986A | 公開(公告)日: | 2012-05-23 |
| 發明(設計)人: | 洪志緯;江文源;陳威助;王志榮;鄭文瑛;蔡伯晨;王威超 | 申請(專利權)人: | 中國探針股份有限公司 |
| 主分類號: | H01B1/00 | 分類號: | H01B1/00;H01B1/02;H01B1/08;H01R13/03 |
| 代理公司: | 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139 | 代理人: | 孫皓晨 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電弧 沖蝕 不含鎘 復合 接點 材料 | ||
技術領域
本發明涉及一種電接點材料,特別涉及一種具有高硬度、耐磨耗性質下,仍兼有較低接觸電阻特性,能夠維持較佳抗電弧沖蝕能力的銀基-不含鎘復合材的電接點材料。
背景技術
目前,電接點材料廣泛運用于各種需進行電性接觸才能實施運作的領域。例如通訊傳輸系統或電源輸出控制、電子儀器連接及計算器(計算機)外圍等。一般在電連接器或繼電器開關運作瞬間,由于其兩電極接點在即將接觸或剛分離之際的間距較小,故在維持高電場分布的環境下,其二電接點間的電流會據此產生放電現象,進而形成所謂“電弧”的物理現象。
一般來說,在電弧沖蝕過程中,會造成二電接點間材料質量的轉移,而在電接點表面形成凸起或凹口狀;或由于表面因電弧沖蝕后金屬熔融再凝固所形成的較粗糙的表面;以及其它原因產生的污染或破壞現象,皆會使原電接觸表面失去平坦而造成接觸電阻值提升,進而影響電接點的工作效能。
至于實際應用上,一般多使用白金為材料,但是,白金成本太高,因此便有用銅代替白金的趨勢。然而,銅雖具高導電、熱、低成本等優點,但卻容易在銅表面形成氧化物,因此,還有提出具有與銅相同優點的銀基材為材料。然而,銀雖可抗氧化,但其強度較低、耐磨性不佳,電弧沖蝕現象嚴重,并不利于長時間電接點材的應用。后期出現了具有高導電、高導熱、耐腐蝕,且能傳導更大電流的較具經濟性的CdO/Ag接觸材,并將其用于重型或高極開關、繼電器上。然而Cd具有強烈毒性且歐盟已正式通過WEEE及RoHS議案,禁止使用各類具高毒性物質的電子產品,例如Cd,Pb等。
還有一種AuCo電接點材料,該電接點材料經過500次電弧沖蝕測試后,其材料表面易出現嚴重的破壞現象,產品壽命不長。
發明內容
本發明的目的在于提供一種傳導大電流、具有較佳耐腐蝕性及接觸材硬度,又能符合國際無毒性材料規定的電接點材料,從而克服現有技術電接點材料的缺陷。
本發明是通過以下技術方案來克服這些缺陷的:
一種可抗電弧沖蝕的銀基-不含鎘復合材的電接點材料,其特征在于:該電接點材料的維式硬度值(Hv)為100~150,且于測試電流為1~5安培、10~20伏特條件下,其接觸電阻值為5~60mohm(毫歐姆),且該抗電弧沖蝕能力可達到2*103~10*103次數;該電接點材料用于電連接器金屬底材表面時,所形成的兩種電接點在低接觸電阻條件下,可有效維持抗電弧沖蝕能力。
其中,該電接點材料是由Ag-(SnO2+In2O3)復合材組成。其中該Ag-(SnO2+In2O3)復合材的(SnO2+In2O3)成分所占比例為按重量計9~11%。
其中該電接點材料也可由Ag-Cu?oxide(氧化物)復合材組成。其中該Ag-Cu?oxide(氧化物)復合材的Cu?oxide(氧化物)成分所占比例為按重量計15~25%。
本發明的可抗電弧沖蝕的銀基-不含鎘復合材的電接點材料,符合歐洲共同體(EC)廢家電(WEEE)及RoHS法令規章,同時該電接觸材料兼具有傳導大電流、較佳耐腐蝕性及提升接觸材硬度等優點,有效降低了電弧侵蝕效應,并達到了低接觸電阻目標,大幅提升了產品的使用壽命。
附圖說明
圖1A為現有AuCo電接點材料經500次電弧沖蝕測試后連接器的外觀表面圖(一);
圖1B為現有AuCo電接點材料經500次電弧沖蝕測試后連接器的外觀表面圖(二);
圖2A為本發明AgSnIn電接點材料經5000次電弧沖蝕測試后連接器的外觀表面圖(一);
圖2B為本發明AgSnIn電接點材料經5000次電弧沖蝕測試后連接器的外觀表面圖(二);
圖3A為本發明AgCu電接點材料經2000次電弧沖蝕測試后連接器的外觀表面圖(一);
圖3B為本發明AgCu電接點材料經2000次電弧沖蝕測試后連接器的外觀表面圖(二);
圖4為本發明電接點材料組織的SEM顯微照相圖。
具體實施方式
以下結合附圖,對本發明上述的和另外的技術特征和優點作更詳細的說明。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國探針股份有限公司,未經中國探針股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010535380.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:電池充電裝置及方法
- 下一篇:一種零售點轉賬作業系統及交易數據加密傳輸方法





