[發明專利]納米微結構的制造方法無效
| 申請號: | 201010526458.2 | 申請日: | 2010-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN102456547A | 公開(公告)日: | 2012-05-16 |
| 發明(設計)人: | 李昇儒 | 申請(專利權)人: | 和椿科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L33/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 北京戈程知識產權代理有限公司 11314 | 代理人: | 程偉;趙占元 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 納米 微結構 制造 方法 | ||
1.一種納米微結構的制造方法,包括:
提供一基板;
于該基板上形成多個納米球;
于該基板上及各該納米球之間形成待蝕刻膜;
移除各該納米球;
于該待蝕刻膜上形成阻層;
進行濕蝕刻,以移除該待蝕刻膜及其下的部分基板材料,以于該基板表面形成多個凸塊;以及
移除該阻層,以露出各該凸塊。
2.根據權利要求1所述的納米微結構的制造方法,其中,該基板為氧化鋁基板或硅基板。
3.根據權利要求1所述的納米微結構的制造方法,其中,該待蝕刻膜為金屬氧化物或金屬氮化物。
4.根據權利要求3所述的納米微結構的制造方法,其中,該待蝕刻膜還包括選自氮、磷及硼所組成群組中的一種或多種摻雜物。
5.根據權利要求1所述的納米微結構的制造方法,其中,該阻層為金屬氧化物或金屬氮化物。
6.根據權利要求1所述的納米微結構的制造方法,其中,該阻層為氧化硅。
7.根據權利要求1所述的納米微結構的制造方法,其中,該阻層的材料不同于該待蝕刻膜的材料。
8.根據權利要求1所述的納米微結構的制造方法,其中,該凸塊的高度與寬度的比值范圍為0.25至0.5。
9.根據權利要求1所述的納米微結構的制造方法,其中,該凸塊具有晶格面。
10.根據權利要求1所述的納米微結構的制造方法,還包括于進行濕蝕刻之前,先進行燒結工藝。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





