[發明專利]光照射裝置、自適應光學裝置、成像裝置和光照射方法

有效

• 申請號: 201010526308.1
• 申請日: 2010-10-29
• 公開（公告）號: CN102048520A
• 公開（公告）日: 2011-05-11
• 發明（設計）人: 廣瀨太
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: A61B3/15
• 分類號: A61B3/15;A61B3/12
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 康建忠

技術領域

本發明涉及光照射裝置、自適應光學裝置以及成像裝置。特別地，本發明涉及用于眼科診斷等的成像裝置。

背景技術

使用多波長光干涉的光學相干斷層成像術(optical?coherencetomography)(OCT)是獲取對象(尤其是眼底)的高分辨率斷層圖像的方法。下文，通過使用OCT獲取光學斷層圖像的光學斷層成像裝置將被稱為OCT裝置。近年來，已變得可通過增加傅立葉域OCT裝置中使用的測量光束的直徑來獲取視網膜的高水平分辨率斷層圖像(tomographic?image)。另一方面，測量光束的光束直徑的增加的直徑已導致這樣的問題：當獲取視網膜的斷層圖像時，由于對象眼睛的折射率的不均勻以及彎曲表面的畸變所產生的像差，斷層圖像的分辨率以及信噪比減小。為了解決此問題，已經開發出了包括自適應光學系統的自適應光學OCT裝置。自適應光學系統使用波前傳感器實時地測量對象眼睛的像差，并且使用波前校正設備校正該像差，從而可獲取高水平分辨率的斷層圖像。

日本專利公開No.2007-14569描述了包括這種自適應光學系統的眼科成像裝置。該裝置是通過使用自適應光學系統、液晶空間相位調制器、多角鏡、電流鏡(galvano?mirror)以及其它組件獲取眼底的圖像的掃描激光檢眼鏡(SLO裝置)。此眼科成像裝置通過使用液晶空間相位調制器校正在對象眼睛中產生的像差，從而防止水平分辨率降低。“Three-dimensional?adaptive?optics?ultrahigh-resolution?opticalcoherence?tomography?using?a?liquid?crystal?spatial?lightmodulator”，Vision?Research?45(2005)3432-3444描述了可通過使用自適應光學系統、液晶空間光調制器等獲取眼底的高分辨率斷層圖像。在此文中，通過使用相位卷繞(phase?wrapping)技術來校正超過液晶空間光調制器的最大調制量的像差的部分。

發明內容

對于根據日本專利公開No.2007-14569的包括自適應光學系統的眼科裝置，通過使用液晶空間光調制器來校正對象眼睛的像差，從而可獲取高水平分辨率圖像。但是，日本專利公開No.2007-14569沒有描述相位卷繞，相位卷繞是用于校正超過液晶空間光調制器的最大調制量的像差的技術。另一方面，盡管“Three-dimensional?adaptiveoptics?ultrahigh-resolution?optical?coherence?tomography?using?aliquid?crystal?spatial?light?modulator”，Vision?Research?45(2005)3432-3444描述了這樣的OCT裝置，該OCT裝置包括自適應光學系統，并且通過使用相位卷繞技術來校正超過液晶空間光調制器的最大調制量的像差，但是此文沒有描述由像差校正導致的衍射效率降低。但是，當通過執行相位卷繞來執行像差校正時，由于液晶空間光調制器的衍射效率依據調制模式而不同，入射到對象眼睛的入射光束的光功率可能偏離，從而可能發生入射光功率減小。由于入射光功率的損失，獲取的斷層圖像的信噪比可減小。

本發明提供了一種光學成像裝置以及光學成像方法，其通過使用包括空間光調制單元的自適應光學系統，可使得不管調制模式如何測量光束的光功率都恒定，并且可增加斷層圖像的信噪比。

根據本發明的一個方面，光照射裝置包括：光功率獲取單元，被配置為獲取由光源發射的光的光功率，被檢體被所述光照射；光功率調節單元，被配置為根據由所述光功率獲取單元獲得的獲取結果將由所述光源發射的光的光功率調節為預定光功率；以及照射單元，被配置為通過經所述光功率調節單元調節的光照射所述被檢體。

根據本發明，通過使用包括空間光調制單元的自適應光學系統，不管調制模式如何，都可使測量光束的光功率恒定，由此可實現可提高斷層圖像的信噪比的光學成像裝置和光學成像方法。

從下文參照附圖對示例性實施例的描述，本發明的其它特征變得清楚。

附圖說明

圖1示出根據本發明的第一實施例的OCT裝置的整體結構。

圖2A至2C示出通過使用根據本發明的第一實施例的OCT裝置獲取斷層圖像的方法。

圖3A至3C示出根據本發明的第一實施例的OCT裝置的測量光束的光功率的控制方法。

圖4是示出通過使用根據本發明的第一實施例的OCT裝置獲取斷層圖像的步驟的流程圖。

圖5示出根據本發明的第二實施例的OCT裝置的整體結構。