[發(fā)明專利]光照射裝置、自適應(yīng)光學(xué)裝置、成像裝置和光照射方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010526308.1 | 申請(qǐng)日: | 2010-10-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102048520A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 廣瀨太 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 佳能株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | A61B3/15 | 分類號(hào): | A61B3/15;A61B3/12 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 康建忠 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 照射 裝置 自適應(yīng) 光學(xué) 成像 方法 | ||
1.一種光照射裝置,包括:
光功率獲取單元,被配置為獲取由光源發(fā)射的光的光功率,被檢體被所述光照射;
光功率調(diào)節(jié)單元,被配置為根據(jù)由所述光功率獲取單元獲得的獲取結(jié)果將由所述光源發(fā)射的光的光功率調(diào)節(jié)為預(yù)定光功率;以及
照射單元,被配置為用經(jīng)所述光功率調(diào)節(jié)單元調(diào)節(jié)的光照射所述被檢體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的光照射裝置,進(jìn)一步包括:
檢測(cè)單元,被配置成檢測(cè)由所述光功率獲取單元獲取的光功率是否小于所述預(yù)定光功率;
擋板,被布置在所述照射單元的光路上;以及
控制單元,被配置成根據(jù)由所述檢測(cè)單元獲得的檢測(cè)結(jié)果來(lái)打開(kāi)所述擋板。
3.一種自適應(yīng)光學(xué)裝置,包括:
根據(jù)權(quán)利要求1的光照射裝置;
像差測(cè)量單元,被配置成測(cè)量被檢體的像差;以及
光調(diào)制單元,被配置為基于所述像差測(cè)量單元獲得的測(cè)量結(jié)果,調(diào)制從光功率調(diào)節(jié)單元傳播的光。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的自適應(yīng)光學(xué)裝置,
其中,所述被檢體為對(duì)象眼睛,
其中,所述像差在所述對(duì)象眼睛的眼前段中產(chǎn)生,以及
其中,所述光調(diào)制單元被設(shè)置于在光學(xué)上與所述眼前段共軛的位置處。
5.根據(jù)權(quán)利要求3的自適應(yīng)光學(xué)裝置,
其中,光功率獲取單元獲取照射所述被檢體的光的光功率。
6.根據(jù)權(quán)利要求3的自適應(yīng)光學(xué)裝置,
其中,光功率獲取單元基于由所述像差測(cè)量單元測(cè)量的像差,獲取在所述像差測(cè)量單元中損失的光功率。
7.根據(jù)權(quán)利要求3的自適應(yīng)光學(xué)裝置,
其中,光功率獲取單元獲取入射到所述像差測(cè)量單元的光的光功率。
8.根據(jù)權(quán)利要求3的自適應(yīng)光學(xué)裝置,
其中,由所述像差測(cè)量單元用于測(cè)量像差的光以及被用于獲取所述被檢體的圖像的光是由彼此不同的光源發(fā)射的。
9.一種成像裝置,包括:
根據(jù)權(quán)利要求3的自適應(yīng)光學(xué)裝置;以及
圖像獲取單元,被配置成基于從被照射單元用光照射的被檢體返回的返回光束,獲取所述被檢體的圖像。
10.根據(jù)權(quán)利要求9的成像裝置,進(jìn)一步包括:
分離單元,被配置成將由光源發(fā)射的光分離成入射到所述光功率調(diào)節(jié)單元的光束和基準(zhǔn)光束,
其中,圖像獲取單元基于由返回光束和所述基準(zhǔn)光束之間的干涉生成的干涉光束獲取被檢體的斷層圖像,所述返回光束從被照射單元用光照射的被檢體返回。
11.一種光照射方法,包括:
光功率獲取步驟,用于獲取由光源發(fā)射的光的光功率;
光功率調(diào)節(jié)步驟,用于根據(jù)在所述光功率獲取步驟中獲得的獲取結(jié)果,將由所述光源發(fā)射的光的光功率調(diào)節(jié)為預(yù)定光功率;以及
照射步驟,用于以在所述光功率調(diào)節(jié)步驟中經(jīng)調(diào)節(jié)的光照射所述被檢體。
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