[發明專利]濕法處理方法及回蝕方法有效
| 申請號: | 201010508098.3 | 申請日: | 2010-10-15 |
| 公開(公告)號: | CN102446702A | 公開(公告)日: | 2012-05-09 |
| 發明(設計)人: | 劉煥新 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/762 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時云 |
| 地址: | 20120*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 濕法 處理 方法 | ||
技術領域
本發明涉及半導體器件技術領域,尤其涉及一種濕法處理方法及回蝕方法。?
背景技術
隨著集成電路技術的發展,集成電路的集成度越來越高,半導體器件的特征尺寸(CD)越來越小,器件之間的距離也越來越小,從而使得各器件之間的絕緣隔離保護也變得更加重要。當半導體制造技術工藝進入深亞微米技術節點之后,0.13μm技術以下的半導體器件的有源區(AA,Active?Area)之間的隔離槽通常都采用淺溝槽隔離(STI,Shallow?Trench?Isolation)技術來制作。?
請參考圖1A至圖1H,圖1A至圖1H為STI制備方法各步驟對應的器件剖面結構示意圖,如圖1A至圖1H所示,STI的制備通常包括如下步驟:?
提供半導體襯底101;?
在所述半導體襯底101上依次形成墊氧化層(Pad?Oxide)102及氮化硅層103,如圖1A所示;其中,所述氮化硅層103作為阻擋層;?
在所述氮化硅層103上涂光刻膠104,并利用淺溝槽掩模版對所述光刻膠104進行曝光及顯影,形成圖形化的光刻膠104,如圖1B所示;?
以所述圖形化的光刻膠104為掩模,分別對所述氮化硅層103、墊氧化層102及半導體襯底101進行刻蝕,在所述半導體襯底101中形成淺溝槽105,如圖1C所示;并且在刻蝕的過程中將產生有機聚合物;?
進行濕法清洗,去除所述刻蝕步驟中形成的有機聚合物;?
去除所述圖形化的光刻膠,如圖1D所示;?
通過濕法刻蝕對所述氮化硅層103及墊氧化層102進行回蝕(pull?back),回蝕后的器件結構剖面圖如圖1E所示;其中,回蝕的作用是增大淺溝槽105上方的寬度,從而便于后續的高密度等離子(HDP)氧化物的淺溝槽填充,也有利于使所述淺溝槽105上部的拐角圓形化(Comer?Rounding),并且能改善有源?區與STI交界處的凹陷問題;?
在所述溝槽105的側壁上形成襯氧化層(Liner?Oxide)106,并對所述襯氧化層106進行預清洗,該步驟完成之后的器件剖面結構示意圖如圖1F所示;其中,對所述襯氧化層106進行預清洗的目的是為了清除襯氧化層106表面的顆粒(particle),使其表面更平整,從而有利于后續的高密度等離子(HDP)氧化物的淺溝槽填充;?
通過高密度等離子體化學氣相沉積法(HDPCVD)或高深寬比工藝(HARP,High?Aspect?Ratio?Process)在所述氮化硅層103上形成絕緣層107,且所述絕緣層107填滿所述淺溝槽105,并對所述絕緣層107進行化學機械拋光,去除所述氮化硅層103上的絕緣層107;該步驟完成之后的器件剖面結構示意圖如圖1G所示;?
去除所述氮化硅層103及所述墊氧化層102,如圖1H所示。?
其中,關于對氮化硅層及墊氧化層進行回蝕的工藝請參考圖2,圖2為現有的對氮化硅層及墊氧化層進行回蝕的工藝步驟流程圖,如圖2所示,現有的對氮化硅層及墊氧化層進行回蝕的工藝包括如下步驟:?
S101、將所述半導體襯底置于裝有溫度為160℃~165℃的磷酸溶液的第一槽中,對所述氮化硅進行刻蝕;?
S102、將所述半導體襯底從所述第一槽中取出,置于裝有去離子水的第二槽中,并利用溫度為60℃~80℃的去離子水對所述半導體襯底進行沖洗,去除殘留在所述半導體襯底上的磷酸溶液;?
S103、將所述半導體襯底從所述第二槽中取出,置于裝有稀釋的HF溶液的第三槽中,對所述墊氧化層進行刻蝕;其中,所述稀釋的HF溶液的濃度為1∶100~1∶500;?
S104、將所述半導體襯底從所述第三槽中取出,置于裝有去離子水的第四槽中,并利用去離子水對所述半導體襯底進行沖洗,去除殘留在所述半導體襯底上的氫氟酸溶液;?
S105、將所述半導體襯底從所述第四槽中取出,置于裝有1號標準清洗液(SC1)的第五槽中進行清洗,去除半導體襯底表面的顆粒和有機物;其中所述SC1為雙氧水(H2O2)和氫氧化氨(NH4OH)的混合液;?
S106、將所述半導體襯底從所述第五槽中取出,置于裝有去離子水的第六槽中,并利用去離子水對所述半導體襯底進行沖洗,去除殘留在半導體襯底表面的SC1液體;以及?
S107、將所述半導體襯底從所述第六槽中取出,置于第七槽中,對所述半導體襯底進行異丙醇(IPA,Isopropyl?Alcohol)烘干。?
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





