[發明專利]輸入裝置、輸入處理程序以及輸入控制方法

有效

• 申請號: 201010502917.3
• 申請日: 2010-09-28
• 公開（公告）號: CN102033670A
• 公開（公告）日: 2011-04-27
• 發明（設計）人: 井上欣也;藤田博;仁川進
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;孫海龍

技術領域

本發明涉及輸入裝置、輸入處理程序以及輸入控制方法。

背景技術

觸摸板已經被當作操作輸入裝置(例如，日本未經審查的專利申請公開說明書第2007-109082號)。觸摸板是一種輸入裝置，其被配置為檢測手指等是否接觸操作屏，并輸出坐標數據。觸摸板可以放置在顯示裝置(例如，包括液晶顯示器(LCD))上。

電容檢測方法被作為一種適用于觸摸板檢測所述接觸的檢測方法。使用電容檢測方法的觸摸板包括設置在觸摸板的操作屏上的多個電極，以便檢測電容的變化，其中，由于手指等接觸操作屏而導致所述變化。

根據使用電容檢測方法的觸摸板，檢測到電容變化，其中，由于手指等接觸操作屏而導致所述變化。然而，由于觸摸板電極部分的配置變化也會導致電容變化。結果，當由于觸摸板電極部分的配置變化所導致的電容的變化量超過閾值時，出現錯誤輸入，因此，即使實際上沒有接受操作輸入，但是，仍然確定出現操作輸入。當用戶按壓操作屏的力量比所需要的力量更大時，或者，當壓力是施加在觸摸板的框架上時，出現所述觸摸板電極部分的配置變化。

將參照附圖來說明針對觸摸板所出現的錯誤輸入。圖10A和10B中的每一個圖示出電極如何被設置在觸摸板上。如圖10A和10B中的每一個圖所示，觸摸板P2放置在液晶顯示器P1上。觸摸板P2包括：十個電極X1至X10，其設置在X坐標軸方向上；以及十四個電極Y1至Y14，其設置在Y坐標軸方向上。

當用戶的手指與觸摸板P2接觸時，可以基于電極X1至X10以及電極Y1至Y14中的每一個電極的電容分布的變化來確定用戶手指接觸位置的坐標。此外，可以通過重復地測量電極X1至X10以及電極Y1至Y14中的每一個電極的電容分布來檢測手指接觸位置的移動。根據圖10A和10B中的每一個圖中所示的示例，手指降低速度在向下的方向上移動，并且，在液晶顯示器P1上顯示手指移動的軌跡。圖10B示意性示出手指移動的軌跡，檢測出的在圖10A所示的示例中的手指接觸位置被示出為記號“O”。

圖11是觸摸板輸入裝置的截面圖，圖12A和圖12B中的每一個是觸摸板電極的電路圖。觸摸板依次包括在X坐標軸方向(X)設置的觸摸板電極、在Y坐標軸方向(Y)設置的觸摸板電極、以及在LCD上放置的覆蓋板，這意味著在觸摸板和LCD之間提供了空間。這里，LCD接地，從而得到GND電位。

圖11所示的X電極寄生電容C1是在作為地的LCD和在X軸側設置的電極X1至X10之間出現的電容。類似地，Y電極寄生電容C2是在LCD和在Y軸側設置的電極Y1至Y14之間出現的電容。此外，圖11所示的XY電極間電容C3是在X軸側設置的電極X1至X10和在Y軸側設置的電極Y1至Y14之間出現的電容。此外，手指電容Cf是在X軸側設置的電極X1至X10和手指之間出現的電容。

如圖12A和圖12B的電路圖所示，觸摸板被配置為使得在Y軸側設置的電極Y1至Y14中的每一個都作為地，用來測量在X軸側設置的電極X1至X10的電容。此外，當測量在X軸側設置的電極X1至X10的電容時，觸摸板針對電極X1至X10中的每一個來測量X電極寄生電容C1、XY電極間電容C3以及手指電容Cf的組合電容。此外，當測量在Y軸側設置的電極Y1至Y14的電容時，觸摸板被配置為在X軸側設置的電極X1至X10接地，并且針對電極Y1至Y14中的每一個來測量Y電極寄生電容C2、XY電極間電容C3以及手指電容Cf的組合電容。然后，觸摸板針對每個所測量的電容值來執行模擬-數字(A/D)轉換，并確定手指接觸觸摸板的坐標。

發明內容

本文討論的實施方式的一個方面提供了一種輸入裝置，該輸入裝置包括：測量來自觸摸板上設置的多個電極的電容；基于所述電極的所述電容的所述測量結果的分布來確定所述觸摸板中是否出現了變形；基于所述電容測量結果分布來輸出所述觸摸板操作輸入的坐標數據；并且，當所述確定步驟確定存在所述變形時，停止所述輸出所述坐標數據的步驟。

將通過權利要求中特別指出的那些特征、元件和組合來實現和達到本發明的目的和優勢。

應當理解，以上一般性說明和隨后的詳細說明都是示例性和解釋性的，不用來限制所要求的本發明。

附圖說明

圖1是示出根據第一實施方式的示例性輸入裝置的框圖；

圖2示出根據第二實施方式的終端裝置的示例性構造；

圖3示出觸摸板的示例性電極；

圖4是示出根據第二實施方式的示例性觸摸輸入-功能單元的框圖；

圖5示出了通過電容檢測單元測量的示例性電容；