[發明專利]輸入裝置、輸入處理程序以及輸入控制方法

有效

• 申請號: 201010502917.3
• 申請日: 2010-09-28
• 公開（公告）號: CN102033670A
• 公開（公告）日: 2011-04-27
• 發明（設計）人: 井上欣也;藤田博;仁川進
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;孫海龍

1.一種輸入裝置，該輸入裝置包括：

電容測量單元，其被配置為測量觸摸板上設置的多個電極的電容；

變形確定單元，其被配置為基于所述電容的結果分布來確定所述觸摸板中是否存在變形；以及

坐標輸出單元，其被配置為當確定不存在變形時基于所述結果分布來輸出所述觸摸板上的操作輸入的坐標數據。

2.根據權利要求1所述的輸入裝置，該輸入裝置還包括連續性確定單元，所述連續性確定單元被配置為確定所述觸摸板上的所述操作輸入是否存在連續性。

3.根據權利要求2所述的輸入裝置，其中，所述電容測量單元反復測量所述多個電極的所述電容，并且所述連續性確定單元在連續預定次數有至少一個電容輸出值大于測量閾值時確定存在所述連續性。

4.根據權利要求2所述的輸入裝置，其中，所述變形確定單元在所述連續性確定單元確定不存在所述連續性時確定是否存在所述變形。

5.根據權利要求1所述的輸入裝置，該輸入裝置還包括連續性確定單元，所述連續性確定單元被配置為確定所述觸摸板上的所述操作輸入是否存在連續性。

6.根據權利要求5所述的輸入裝置，其中，當所述連續性確定單元確定不存在所述連續性并且所述變形確定單元確定存在所述變形時，所述坐標輸出單元停止輸出所述坐標數據。

7.根據權利要求1所述的輸入裝置，其中，所述變形確定單元將多個從所述電極測量的電容輸出與變形閾值進行比較，并且，當值大于所述變形閾值的電容輸出的個數等于和/或大于給定數時，確定存在所述變形。

8.根據權利要求7所述的輸入裝置，其中，當所述多個電容輸出中的任何一個超過比所述變形閾值更大的測量閾值時，所述坐標輸出單元輸出所述電容輸出的分布重心的數據，作為所述坐標數據。

9.根據權利要求1所述的輸入裝置，其中，所述觸摸板設置在顯示裝置上，并且，所述觸摸板與所述顯示裝置隔開預定距離。

10.根據權利要求1所述的輸入裝置，其中，當所述變形確定單元確定存在所述變形時，所述坐標輸出單元停止輸出所述坐標數據。

11.一種計算機可讀存儲介質，該計算機可讀存儲介質具有存儲在存儲器中的程序代碼，當由處理器執行時，該程序代碼控制輸入，所述計算機可讀存儲介質包括：

測量觸摸板上設置的多個電極的電容的程序代碼；

基于所述電容的結果分布來確定所述觸摸板中是否出現變形的程序代碼；以及

當確定不存在變形時基于所述結果分布來輸出所述觸摸板上的操作輸入的坐標數據的程序代碼。

12.根據權利要求11所述的計算機可讀存儲介質，該計算機可讀存儲介質還包括確定所述觸摸板的操作輸入是否存在連續性的程序代碼。

13.根據權利要求11所述的計算機可讀存儲介質，該計算機可讀存儲介質還包括當所述確定是否存在變形的程序代碼確定存在變形時停止輸出所述坐標數據的程序代碼。

14.一種輸入控制方法，該輸入控制方法包括：

測量觸摸板上設置的多個電極的電容；

基于所述電容的結果分布來確定所述觸摸板中是否出現了變形；以及

當確定不存在變形時基于所述結果分布來輸出所述觸摸板上的所述操作輸入的坐標數據。

15.根據權利要求14所述的輸入控制方法，該輸入控制方法還包括確定所述觸摸板上的操作輸入是否存在連續性的步驟。

16.根據權利要求14所述的輸入控制方法，該輸入控制方法還包括當確定存在所述變形時停止輸出所述坐標數據的步驟。