[發明專利]一種太赫茲波掃描方法和系統

無效

• 申請號: 201010299914.4
• 申請日: 2010-09-29
• 公開（公告）號: CN102004311A
• 公開（公告）日: 2011-04-06
• 發明（設計）人: 鄧朝;梁來順;張存林
• 申請（專利權）人: 首都師范大學
• 主分類號: G02B26/10
• 分類號: G02B26/10;G01N23/04
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術領域

本發明涉及太赫茲波應用領域，特別是涉及一種太赫茲波掃描方法和系統。

背景技術

太赫茲波又稱為T射線，是一種特殊的電磁波，它的頻率范圍在0.1-10THz之間，波長在30-3000微米范圍內。太赫茲波的頻率很高，因而具有很高的空間分辨率，可以用于對待檢測目標進行成像。而且太赫茲波的光子能量很低，僅為X射線光子能量的百萬分之一，因而太赫茲波對生物體的輻射損害很小，這是利用太赫茲波進行成像的顯著優點。

現有的利用太赫茲波進行掃描成像的技術，是利用太赫茲波探測裝置探測待檢測目標上的物點自身輻射的太赫茲波，或者探測待檢測目標上的物點所反射的太赫茲波，從而得到相應物點所輻射或反射的太赫茲波強度數據，這樣，現有技術為了獲得待檢測目標上所有物點輻射或反射的太赫茲波強度數據，需要利用電機帶動太赫茲波探測裝置逐行或逐列運動。

由此可見，現有的利用太赫茲波進行掃描成像的技術，由于需要利用電機帶動太赫茲波探測裝置逐行或逐列運動才能實現對待檢測目標上所有物點的掃描，而電機的移動速度比較慢，因而完成掃描需要耗費很長的時間。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種太赫茲波掃描方法和系統，能快速對待檢測目標進行掃描。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：一種太赫茲波掃描系統，該系統包括掃描反射裝置、一號折射裝置、二號折射裝置、靜反射裝置和探測裝置，其中，所述掃描反射裝置和靜反射裝置的反射面、以及所述一號折射裝置和二號折射裝置的折射面，均與公共平面垂直；

所述掃描反射裝置，圍繞自身的擺動軸擺動，用于將入射到自身反射面的太赫茲波反射到所述一號折射裝置的折射面上；其中，所述擺動軸位于所述掃描反射裝置的反射面內，且垂直于所述公共平面；

所述一號折射裝置和二號折射裝置均圍繞自身的旋轉軸、以大小相同方向相反的角速度旋轉，且二者旋轉的起始位置相同；其中，所述一號折射裝置和二號折射裝置的旋轉軸重合，且分別為一號折射裝置和二號折射裝置的中線；所述一號折射裝置和二號折射裝置的楔角、折射率以及太赫茲波從物點到達所述一號折射裝置和二號折射裝置的折射面的光路長度滿足如下關系：

L1·tan(arcsin(n1sinθ1)-θ1)=L2·tan(n2sin(arcsin(arcsin(n1sinθ1)-θ1n2+θ2))-θ2)]]>