[發(fā)明專利]一種太赫茲波掃描方法和系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010299914.4
• 申請日: 2010-09-29
• 公開（公告）號(hào): CN102004311A
• 公開（公告）日: 2011-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄧朝;梁來順;張存林
• 申請（專利權(quán)）人: 首都師范大學(xué)
• 主分類號(hào): G02B26/10
• 分類號(hào): G02B26/10;G01N23/04
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

1.一種太赫茲波掃描系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括掃描反射裝置、一號(hào)折射裝置、二號(hào)折射裝置、靜反射裝置和探測裝置，其中，所述掃描反射裝置和靜反射裝置的反射面、以及所述一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置的折射面，均與公共平面垂直；

所述掃描反射裝置，圍繞自身的擺動(dòng)軸擺動(dòng)，用于將入射到自身反射面的太赫茲波反射到所述一號(hào)折射裝置的折射面上；其中，所述擺動(dòng)軸位于所述掃描反射裝置的反射面內(nèi)，且垂直于所述公共平面；

所述一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置均圍繞自身的旋轉(zhuǎn)軸、以大小相同方向相反的角速度旋轉(zhuǎn)，且二者旋轉(zhuǎn)的起始位置相同；其中，所述一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置的旋轉(zhuǎn)軸重合，且分別為一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置的中線；所述一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置的楔角、折射率以及太赫茲波從物點(diǎn)到達(dá)所述一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置的折射面的光路長度滿足如下關(guān)系：

L1·tan(arcsin(n1sinθ1)-θ1)=L2·tan(n2sin(arcsin(arcsin(n1sinθ1)-θ1n2+θ2))-θ2)]]>

其中，θ₁和θ₂分別為所述一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置的楔角，n₁和n₂分別為所述一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置的折射率，L₁和L₂分別為太赫茲波從物點(diǎn)到達(dá)所述一號(hào)折射裝置和二號(hào)折射裝置的折射面的光路長度；

所述一號(hào)折射裝置用于，將經(jīng)過所述掃描反射裝置反射的太赫茲波折射到所述二號(hào)折射裝置的折射面上；

所述二號(hào)折射裝置用于，將經(jīng)過所述一號(hào)折射裝置折射的太赫茲波折射到所述靜反射裝置的反射面上；

所述靜反射裝置用于，將經(jīng)過所述二號(hào)折射裝置折射的太赫茲波匯聚到所述探測裝置處；

所述探測裝置位于所述靜反射裝置的像點(diǎn)位置，用于接收所述靜反射裝置匯聚的太赫茲波。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)進(jìn)一步包括成像裝置，所述成像裝置與所述探測裝置相連，用于對所述探測裝置接收的太赫茲波進(jìn)行處理，形成與所述物點(diǎn)對應(yīng)的圖像點(diǎn)，并顯示所述圖像點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)進(jìn)一步包括太赫茲發(fā)射裝置，所述太赫茲發(fā)射裝置用于，向待檢測目標(biāo)發(fā)射所述太赫茲波；

所述待檢測目標(biāo)將所述太赫茲發(fā)射裝置發(fā)射的太赫茲波反射到所述掃描反射裝置的反射面上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述掃描反射裝置為平面鏡。