[發明專利]光能測量裝置

無效

• 申請號: 201010299085.X
• 申請日: 2010-09-30
• 公開（公告）號: CN102445268A
• 公開（公告）日: 2012-05-09
• 發明（設計）人: 陳昱樹;江國豐;陳穎慶;黃正杰;羅國萌;盧建廷
• 申請（專利權）人: 富士邁半導體精密工業（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/04;G01J1/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種光能測量裝置，尤其是一種測量光能量分布均勻度的測量裝置。

背景技術

通常，現有技術的一種聚焦式太陽能發電裝置采用聚焦的方式將太陽光的光能密度成倍提高后，再照射于太陽能電池單元，例如單晶硅片，借此可以在較小面積的太陽能電池單元上獲得較大的電流，從而提高太陽能電池的光電轉換效率。但是，該種太陽能發電裝置對太陽光聚焦后產生的光能分布會受到太陽光照射方向的影響，且太陽光聚焦后的光斑面積較小，現有技術的光能測量裝置較難測量太陽光聚焦后的在光斑處的能量分布。

發明內容

為解決現有技術對太陽光聚焦后能量分布不易測量的問題，有必要提供一種方便測量太陽光聚焦后能量分布的光能測量裝置。

一種光能測量裝置，其包括沿光軸依次設置的平行光發射器、菲涅爾透鏡、光纖陣列，以及光能測量儀，該光纖陣列包括多個相鄰設置的光纖，每一光纖相對兩端分別包括一入光面和一出光面，該多個光纖的入光面在該菲涅爾透鏡的焦點處共面并定義一光能入射面，該多個光纖的出光面共面并定義一光能出射面，該光能測量儀包括光能探頭和連接該光能探頭的測量單元，該光能探頭同該光能出射面光學耦合，該平行光發射器所發出的平行光線經菲涅爾透鏡匯聚后至少照射部分該光能入射面，該光能測量儀用于感測并計算該光纖陣列光能入射面的光能分布。

相較于現有技術，上述光能測量裝置采用細小的光纖匯聚成的光纖陣列對平行光聚集后的光能分布進行測量，可以較為準確的測量太陽光聚焦后的能量分布。

附圖說明

圖1是本發明光能測量裝置一實施方式的立體結構示意圖。

圖2是采用圖1所示光能測量裝置得到的光能分布圖。

圖3是采用圖1所示光能測量裝置得到的另一光能分布圖。

主要元件符號說明

光能測量裝置????????????????1

平行光發射器????????????????10

光軸????????????????????????19

菲涅爾透鏡??????????????????20

光纖陣列????????????????????30

光纖????????????????????????31

入光面??????????????????????32

出光面??????????????????????33

光能入射面??????????????????35

光能出射面??????????????????36

光能測量儀??????????????????40

光能探頭????????????????????41

測量單元????????????????????42

顯示器??????????????????????43

轉動裝置????????????????????50

第一齒輪????????????????????51

第二齒輪????????????????????52

驅動裝置????????????????????53

角度調整裝置????????????????60

第一角度調整器??????????????61

第二角度調整器??????????????62

具體實施方式

請參閱圖1，本發明第一實施方式的光能測量裝置1包括沿光軸19依次設置的平行光發射器10、菲涅爾透鏡20、光纖陣列30、光能測量儀40、轉動裝置50，以及角度調整裝置60。

該光纖陣列30包括多個相鄰設置的橫截面為圓形的柱狀光纖31，每一光纖31的相對兩端分別包括一入光面32和一出光面33。該多個光纖31的入光面32在該菲涅爾透鏡20的焦點處共面并定義一光能入射面35。本實施方式中，該光能入射面35為條狀的長方形平面。該光能入射面35垂直于該光軸19并關于光軸19對稱，其面積略小于平行光線11經菲涅爾透鏡20匯聚后在其焦點處產生的光斑的面積。該多個光纖31的出光面33共面并定義一光能出射面36。