[發明專利]光能測量裝置

無效

• 申請號: 201010299085.X
• 申請日: 2010-09-30
• 公開（公告）號: CN102445268A
• 公開（公告）日: 2012-05-09
• 發明（設計）人: 陳昱樹;江國豐;陳穎慶;黃正杰;羅國萌;盧建廷
• 申請（專利權）人: 富士邁半導體精密工業（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/04;G01J1/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光能測量裝置，其包括沿光軸依次設置的平行光發射器、菲涅爾透鏡、光纖陣列，以及光能測量儀，該光纖陣列包括多個相鄰設置的光纖，每一光纖相對兩端分別包括一入光面和一出光面，該多個光纖的入光面在該菲涅爾透鏡的焦點處共面并定義一光能入射面，該多個光纖的出光面共面并定義一光能出射面，該光能測量儀包括光能探頭和連接該光能探頭的測量單元，該光能探頭同該光能出射面光學耦合，該平行光發射器所發出的平行光線經菲涅爾透鏡匯聚后至少照射部分該光能入射面，該光能測量儀用于感測并計算該光纖陣列光能入射面的光能分布。

2.如權利要求1所述的光能測量裝置，其特征在于：每一光纖的橫截面為方形。

3.如權利要求1所述的光能測量裝置，其特征在于：每一光纖的橫截面為圓形。

4.如權利要求1所述的光能測量裝置，其特征在于：每一光纖延伸的方向與光軸平行。

5.如權利要求1所述的光能測量裝置，其特征在于：該光能入射面垂直該光軸對稱設置。

6.如權利要求5所述的光能測量裝置，其特征在于：該光能入射面的面積小于平行光線經菲涅爾透鏡匯聚后在焦點處產生的光斑的面積。

7.如權利要求6所述的光能測量裝置，其特征在于：該光能入射面為條狀的長方形平面。

8.如權利要求7所述的光能測量裝置，其特征在于：進一步包括一轉動裝置，該轉動裝置使該光能入射面圍繞該光軸轉動。

9.如權利要求1所述的光能測量裝置，其特征在于：每一光纖的外表面設有反射膜。

10.如權利要求1所述的光能測量裝置，其特征在于：該光能探頭為多個，每一光能探頭對應與一光纖的出光面光學耦合。

11.如權利要求1所述的光能測量裝置，其特征在于：進一步包括一連接該平行光發射器的角度調整裝置，該角度調整裝置用于調整該平行光發射器所發出的光線與光軸之間的角度。

12.如權利要求1所述的光能測量裝置，其特征在于：進一步包括一顯示器，該顯示器根據該測量單元提供的數據顯示該光能入射面的光能分布圖像。