[發明專利]應用高溫膨脹儀進行電瓷坯體燒成溫度范圍的測定方法

有效

• 申請號: 201010296409.4
• 申請日: 2010-09-29
• 公開（公告）號: CN101975793A
• 公開（公告）日: 2011-02-16
• 發明（設計）人: 沈駿;李紅寶
• 申請（專利權）人: 中國西電電氣股份有限公司
• 主分類號: G01N25/02
• 分類號: G01N25/02;G01N25/16
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 汪人和

技術領域

本發明涉及應用高溫膨脹儀進行電瓷坯體燒成溫度范圍的測定方法。

背景技術

電瓷坯體在燒制過程中，坯體會存在一定的膨脹及收縮的變化過程。當電瓷坯體收縮到一定的程度時，坯體會發生較為顯著的變化：如顏色不同、比重增加、體積縮小、硬度和機械強度大大提高，對水和酸變得極為穩定。這種性能的轉變，促使坯體具備一定的化學、物理和機械性能，來滿足電器和電力工業使用上的要求。

電瓷工藝的最終目的是制成機電強度高、冷熱性能好的產品，達到這一要求必須經過坯體燒制這一階段，也是電瓷生產中的關鍵工藝。

在進行坯體燒制之前，需要對坯體的小樣進行該坯體的燒成溫度范圍的測試，以便確定該坯體在燒制過程中的最高燒成溫度，達到完全燒結的目的，對指導生產有著重大的意義。

依照JB/DQ7079-83《電瓷原材料的檢驗和生產工藝控制》標準，現在傳統方式測試坯體的燒成溫度范圍的方法至少需要進行4個工作日，它包含近三十個試樣的制備及標記、試驗電爐中各個溫度點的燒成與取樣、對已經燒制的小樣進行水煮排氣、及水中靜置24小時后的重量稱量后等，依據公式計算這些試樣的比重及吸水率，最后依據這些數據進行范圍試樣燒成溫度范圍的判定，同時由于手工測試，其數值間隔跨度在10℃，比較粗糙。

現行測試坯體的燒成溫度范圍的方法周期長，方法繁瑣，對操作人員的業務水平要求較高，同樣人為因素對數據的影響較大，勞動效率低。

發明內容

本發明的目的是提供一種應用高溫膨脹儀進行電瓷坯體燒成溫度范圍的測定方法，能夠快速的測定電瓷坯體的燒成溫度范圍。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種應用高溫膨脹儀進行電瓷坯體燒成溫度范圍的測定方法，對電瓷坯體的線膨脹率曲線進行微分，得到線膨脹率曲線的一次微分曲線；由線膨脹率曲線通過公式1和公式2聯合計算出熱膨脹系數曲線；

α＝dL/L×[1/(t_h-t₀)]+α₀???????????????????(公式1)

其中：

α——試樣(t_h-t₀)的平均線膨脹系數(10^-6℃^-1或10^-6K^-1)；

dL——試樣由溫度t₀升至t_h的長度伸長量(mm)；

L₀——室溫(t₀)下試樣的長度(mm)；

t₀——試驗時的起始溫度(℃)；

t_h——試驗實際加熱溫度(℃)；

α₀——儀器的校正系數(10^-6℃^-1或10^-6K^-1)；

A＝dL/L×100+α₀(t_h-t₀)×100????????????????(公式2)

其中：

A——試樣(t_h-t₀)的平均線膨脹率(％)；

—次微分曲線的最后一個遞減區域內對應坐標中最高溫度，為電瓷坯體燒成的最低溫度點；

熱膨脹系數曲線的最后一個遞減區域內對應坐標中最高溫度，為電瓷坯體燒成的最高溫度點。

線膨脹率曲線由高溫膨脹儀測得。

所述高溫膨脹儀為德國耐馳公司生產的DIL402PC型的高溫膨脹儀。

高溫膨脹儀測試試樣時溫度范圍為常溫～1600℃。

所述試樣的大小為φ6×25mm。

所述高溫膨脹儀的升溫速率為5k/min。

與現有技術相比，本發明一種應用高溫膨脹儀進行電瓷坯體燒成溫度范圍的測定方法，應用高溫膨脹儀5～6小時便可以獲得待測坯體的線膨脹率曲線，對待測坯體的線膨脹率曲線進行一次微分、計算出熱膨脹系數曲線，查找線膨脹曲線的一次微分曲線和熱膨脹系數曲線便可以得到待測坯體的燒成溫度范圍；該種方法時間較短，準確性高，便于分析，人為影響因素少。

附圖說明

圖1為實施例1干法成型的電瓷坯體高溫膨脹圖，其包含坯體的線膨脹率曲線、線膨脹系數曲線及線膨脹率的一次微分曲線；

圖2為實施例2濕法套管的電瓷坯體高溫膨脹圖，其包含坯體的線膨脹率曲線、線膨脹系數曲線及線膨脹率的一次微分曲線