[發明專利]陣列測試裝置無效
| 申請號： | 201010291871.5 | 申請日： | 2010-09-26 |
| 公開（公告）號： | CN102117589A | 公開（公告）日： | 2011-07-06 |
| 發明（設計）人： | 樸廷喜 | 申請（專利權）人： | 塔工程有限公司 |
| 主分類號： | G09G3/00 | 分類號： | G09G3/00;G01R31/28;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 張文;郭放 |
| 地址： | 韓國慶*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 陣列 測試 裝置 | ||
1.一種陣列測試裝置，包括：測試單元，所述測試單元測試基板的缺陷；基板輸送單元，所述基板輸送單元向所述測試單元輸送所述基板；以及探針組件，所述探針組件將電信號施加至形成在所述基板上的電極，
其中，所述探針組件包括：
探針組件框架，所述探針組件框架設置為能夠沿所述基板的輸送方向移動；以及
托架，所述托架以可拆卸的方式設置在所述探針組件框架上，所述托架具有探針頭，所述探針頭配備有將接觸所述基板的所述電極的探針引腳。
2.根據權利要求1所述的陣列測試裝置，其中，所述探針組件進一步包括頭升降單元，以上下升降所述探針引腳。
3.根據權利要求1所述的陣列測試裝置，其中，所述探針組件進一步包括框架升降單元，以上下升降所述探針組件框架。
4.根據權利要求1所述的陣列測試裝置，其中，所述探針組件進一步包括托架升降單元，以上下升降所述托架。
5.根據權利要求1至4之一所述的陣列測試裝置，其中，所述探針組件框架包括：
一對第一框架條，所述一對第一框架條沿垂直于所述基板的輸送方向的方向延伸；以及
一對第二框架條，所述一對第二框架條沿所述基板的輸送方向延伸，所述第二框架條整體地聯接至所述第一框架條。
6.根據權利要求1至4之一所述的陣列測試裝置，其中，所述托架包括：
一對第一托架條，所述一對第一托架條沿垂直于所述基板的輸送方向的方向延伸；以及
一對第二托架條，所述一對第二托架條沿所述基板的輸送方向延伸，所述第二托架條整體地聯接至所述第一托架條。
7.根據權利要求1至4之一所述的陣列測試裝置，其中，在所述探針組件框架與所述托架之間的接合處設置有減震器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于塔工程有限公司，未經塔工程有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010291871.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
