[發明專利]單天線干擾消除能力識別方法和裝置有效
| 申請號: | 201010285643.7 | 申請日: | 2010-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN101938437A | 公開(公告)日: | 2011-01-05 |
| 發明(設計)人: | 楊廣義 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | H04L25/03 | 分類號: | H04L25/03;H04L27/00;H04B17/00 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 何文彬 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 天線 干擾 消除 能力 識別 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及無線通信領域,特別涉及一種單天線干擾消除能力識別方法和裝置。
背景技術
目前,終端存在兩種類型,一種是SAIC(Single?Antenna?Interference?Cancellation,單天線干擾消除)終端,另一種是Non-SAIC(非單天線干擾消除)終端。
現行的通信系統,網絡側設備根據終端上報的終端類型,確定該終端是否具有SAIC能力,當上報的終端類型為SAIC時,網絡側將該終端識別為具有SAIC能力,當上報的終端類型為Non-SAIC時,網絡側將該終端識別為不具有SAIC能力。
然而,Non-SAIC類型的終端中很大一部分具有SAIC能力,也即具有單天線干擾消除能力,只是將類型上報為Non-SAIC,將這類終端稱為mute?SAIC(靜默單天線干擾消除)終端。
本發明的發明人發現現有技術至少存在以下問題:現行的通信系統根據終端上報的終端類型確定該終端是否具有SAIC能力,將具有SAIC能力的靜默SAIC終端排除在外,SAIC能力識別的準確性較差。
發明內容
為了提高SAIC能力識別的準確性,本發明實施例提供了一種單天線干擾消除能力識別方法和裝置。
一方面,本發明實施例提供了一種單天線干擾消除能力識別方法,所述方法包括:
使用阿爾法正交相移鍵控(alpha-QPSK)調制和高斯最小移頻鍵控(GMSK)調制分別對非單天線干擾消除(Non-SAIC)類型的待測終端進行測試;
根據所述待測終端在alpha-QPSK調制與GMSK調制下對應的下行質量,識別所述待測終端是否具有單天線干擾消除(SAIC)能力。
另一方面,本發明實施例提供了一種單天線干擾消除能力識別方法,所述方法包括:
待測終端將阿爾法正交相移鍵控(alpha-QPSK)調制和高斯最小移頻鍵控(GMSK)調制下對應的下行質量信息上報給單天線干擾消除(SAIC)能力識別的裝置,使所述SAIC能力識別的裝置根據所述下行質量信息獲取alpha-QPSK調制與GMSK調制下對應的下行質量,識別所述待測終端是否具有單天線干擾消除(SAIC)能力。
另一方面,本發明實施例提供了一種單天線干擾消除能力識別裝置,所述裝置包括:
測試模塊,用于使用阿爾法正交相移鍵控(alpha-QPSK)調制和高斯最小移頻鍵控(GMSK)調制分別對非單天線干擾消除(Non-SAIC)類型的待測終端進行測試;
識別模塊,用于根據所述待測終端在alpha-QPSK調制與GMSK調制下對應的下行質量,識別所述待測終端是否具有單天線干擾消除(SAIC)能力。
另一方面,本發明實施例提供了一種基站控制器,包括上述單天線干擾消除能力識別裝置。
另一方面,本發明實施例提供了一種終端,用于將阿爾法正交相移鍵控(alpha-QPSK)調制和高斯最小移頻鍵控(GMSK)調制下對應的下行質量信息上報給單天線干擾消除(SAIC)能力識別的裝置,使所述SAIC能力識別的裝置根據所述下行質量信息獲取alpha-QPSK調制與GMSK調制下對應的下行質量,識別所述待測終端是否具有單天線干擾消除(SAIC)能力。
本發明實施例的一方面,通過使用alpha-QPSK調制和GMSK調制分別對非單天線干擾消除Non-SAIC類型的待測終端進行測試,根據待測終端在alpha-QPSK調制與GMSK調制下對應的下行質量,識別待測終端是否具有單天線干擾消除SAIC能力,從而識別出具有SAIC能力的靜默SAIC終端,可以提高SAIC能力識別的準確性;另一方面,通過上報alpha-QPSK調制和GMSK調制下對應的下行質量信息給SAIC能力識別的裝置,使SAIC能力識別的裝置能夠根據下行質量信息獲取alpha-QPSK調制與GMSK調制下對應的下行質量,進一步可以識別待測終端是否具有SAIC能力,從而識別出具有SAIC能力的靜默SAIC終端,可以提高SAIC能力識別的準確性。
附圖說明
圖1是本發明一實施例提供的SAIC能力識別的方法流程圖;
圖2是本發明另一實施例提供的SAIC能力識別的方法流程圖;
圖3是本發明另一實施例提供的SAIC能力識別的裝置結構示意圖;
圖4是本發明另一實施例提供的SAIC能力識別的另一裝置結構示意圖。
具體實施方式
為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚,下面將結合附圖對本發明實施方式作進一步地詳細描述。
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