[發明專利]一種X射線檢測方法

有效

• 申請號: 201010278390.0
• 申請日: 2010-09-12
• 公開（公告）號: CN101943761A
• 公開（公告）日: 2011-01-12
• 發明（設計）人: 呂冬煜;朱春雨;董明
• 申請（專利權）人: 上海英邁吉東影圖像設備有限公司
• 主分類號: G01V5/00
• 分類號: G01V5/00
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所 31251
• 代理人: 郭桂峰

技術領域

本發明涉及一種X射線檢測方法，尤其涉及一種同時擁有X射線透視技術和背散射技術的多檢測技術的檢測方法，屬于安全檢測技術領域。

背景技術

目前，隨著X射線安全探測技術的發展，在一臺安檢機上同時有多種檢測技術或多檢測視角已經變得越來越普遍，這樣就可以對被檢測物提供多種檢測手段或多檢測視角，從而為安檢員提供更豐富和更全面的檢測信息，提高安檢員的檢測效率和準確性。

但隨著多檢測技術和多檢測視角方式的應用，安檢員需要同時觀察多個顯示器的圖像進行對比，這樣無疑加重了安檢員的負擔，降低了工作效率；同時透射圖和背散射圖之間相互獨立，缺乏相應的關聯度，也不利于更好的發揮其互補的特點。

因此，提供一種能將透射圖和背散射圖融合并顯示在一起的方法成為了一種需要，以便給將兩者的各自特點在統一的空間坐標上同時展現出來，更好的提高檢測質量。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于，克服現有透視圖和背散射圖在空間坐標上缺乏關聯性，不易在兩幅圖上對被檢測物同一部分定位。

為了解決上面的技術問題，本發明提出了一種X射線檢測方法以及采取該種X射線檢測方法的X射線檢測系統，能夠實現在一副圖像上同時顯示被檢物透射信息和背散射信息，其具體技術方案如下面所描述：

一種X射線檢測方法，包括下列步驟：

（1）同步采樣被檢測物的透射圖以及背散射圖；

（2）對上述透射圖以及背散射圖進行坐標校正并匹配，形成同時顯示被檢測物透射信息和背散射信息的綜合圖；

（3）提取背散射圖的危險物體的區域以及區域特征；

（4）匹配對應的透射圖中對應的危險物體的區域；以及，

（5）在所述綜合圖中匹配相對應的區域上做上標記并顯示出來。

進一步地，優選的方法是，步驟（1）中，所述同步采樣是在豎直方向上進行多次點掃描進行的。

進一步地，優選的方法是，步驟（1）中，所述被檢測物的透射圖以及背散射圖的寬度和高度都是相同的。

進一步地，優選的方法是，所述同步采樣通過時間積分的控制方式進行控制，實現被檢測物的透射圖以及背散射圖是同步采樣的。

進一步地，優選的方法是，步驟（1）中，進一步包括：（11）X射線源發射點光束，穿過被檢測物落到透射探測器上形成透射圖上一點，同時由被檢測物散射落在背散射探測器上形成背散射圖上的一點；（12）判斷是否完成一個周期圖像的采集；（13）重復步驟（11），繼續下一個點的采集，最后形成被檢測物的透射圖以及背散射圖。

進一步地，優選的方法是，步驟（2）中，進一步包括：（1）提取透射圖和背散射圖內物體邊緣對應特征；（2）進行空間坐標校正；（3）進行透射圖和背散射圖圖像匹配，形成同時顯示被檢測物透射信息和背散射信息的綜合圖。

進一步地，優選的方法是，步驟（3）中，是根據背散射圖像中危險品亮度較高的特征，通過閾值等提取方式獲得所有危險品區域集合的。

進一步地，優選的方法是，步驟（5）中，進行標記時是在對應危險品圖像區域進行加亮并顯示突出的色彩。

采用本發明所述X射線檢測方法以后，與現有技術相比，可以實現將透射圖像與背散射圖像在一幅圖像上的融合，進一步豐富了安檢圖像信息，加強了兩種檢測技術的關聯度，提高了安檢員的觀察和識別效率，具有較好的技術效果。

附圖說明

通過下面結合附圖對其示例性實施例進行的描述，本發明的上述特征和優點將會變得更加清楚和容易理解。

圖1是本發明X射線檢測方法的系統的結構模塊框圖；

圖2是本發明X射線檢測方法采集時候的同步控制流程圖；

圖3是本發明X射線檢測方法的實施例的具體流程圖。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明所述技術方案的實施作進一步的詳細描述：

本發明是一種X射線透視圖和背散射圖融合的方法，其所采用的系統主要包括：X射線源；透射探測器、背散射探測器以及準直部件；圖像處理部件以及顯示部件；所述圖像處理部件包括，圖像內物體邊緣提取部件、圖像內物體邊緣匹配部件、空間坐標映射部件以及圖像融合部件；其中，從透射探測器以及背散射探測器采集的透射圖和背散射圖經過圖像處理部件的空間坐標匹配以及融合處理，在顯示部件上形成一幅同時顯示被檢測物透射信息和背散射信息的綜合圖。