[發明專利]一種X射線檢測方法

有效

• 申請號: 201010278390.0
• 申請日: 2010-09-12
• 公開（公告）號: CN101943761A
• 公開（公告）日: 2011-01-12
• 發明（設計）人: 呂冬煜;朱春雨;董明
• 申請（專利權）人: 上海英邁吉東影圖像設備有限公司
• 主分類號: G01V5/00
• 分類號: G01V5/00
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所 31251
• 代理人: 郭桂峰

1.一種X射線檢測方法，其特征在于，包括下列步驟：

（1）同步采樣被檢測物的透射圖以及背散射圖；

（2）對上述透射圖以及背散射圖進行坐標校正并匹配，形成同時顯示被檢測物透射信息和背散射信息的綜合圖；

（3）提取背散射圖的危險物體的區域以及區域特征；

（4）匹配對應的透射圖中對應的危險物體的區域；以及，

（5）在所述綜合圖中匹配相對應的區域上做上標記并顯示出來。

2.根據權利要求1所述的X射線檢測方法，其特征在于，步驟（1）中，所述同步采樣是在豎直方向上進行多次點掃描進行的。

3.根據權利要求1所述的X射線檢測方法，其特征在于，步驟（1）中，所述被檢測物的透射圖以及背散射圖的寬度和高度都是相同的。

4.根據權利要求1或2所述的X射線檢測方法，其特征在于，所述同步采樣通過時間積分的控制方式進行控制，實現被檢測物的透射圖以及背散射圖是同步采樣的。

5.根據權利要求2或3所述的X射線檢測方法，其特征在于，步驟（1）中，進一步包括：（11）X射線源發射點光束，穿過被檢測物落到透射探測器上形成透射圖上一點，同時由被檢測物散射落在背散射探測器上形成背散射圖上的一點；（12）判斷是否完成一個周期圖像的采集；（13）重復步驟（11），繼續下一個點的采集，最后形成被檢測物的透射圖以及背散射圖。

6.根據權利要求1所述的X射線檢測方法，其特征在于，步驟（2）中，進一步包括：（1）提取透射圖和背散射圖內物體邊緣對應特征；（2）進行空間坐標校正；（3）進行透射圖和背散射圖圖像匹配，形成同時顯示被檢測物透射信息和背散射信息的綜合圖。

7.根據權利要求1所述的X射線檢測方法，其特征在于，步驟（3）中，是根據背散射圖像中危險品亮度較高的特征，通過閾值等提取方式獲得所有危險品區域集合的。

8.根據權利要求1所述的X射線檢測方法，其特征在于，步驟（5）中，進行標記時是在對應危險品圖像區域進行加亮并顯示突出的色彩。