[發(fā)明專利]COB自動(dòng)分選裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010275529.6 | 申請(qǐng)日: | 2010-09-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101941004A | 公開(公告)日: | 2011-01-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杰西·呂 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杰西·呂 |
| 主分類號(hào): | B07C5/00 | 分類號(hào): | B07C5/00 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 美國(guó)加州苗*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | cob 自動(dòng) 分選 裝置 | ||
1.一種COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于,包括中央控制系統(tǒng)、分別與中央控制系統(tǒng)連接的輸入卡式系統(tǒng)、推動(dòng)器、測(cè)試料軌道,以及輸出卡式系統(tǒng);
輸入卡式系統(tǒng)位于所述測(cè)試料軌道的一端,其中輸入卡式系統(tǒng)包括卡式系統(tǒng)軌道、安裝在卡式系統(tǒng)軌道上的定位架、垂直安裝在定位架的料盒臺(tái)以及垂直安裝在料盒臺(tái)上的輸入卡式料盒,所述輸入卡式料盒設(shè)有若干個(gè)輸入槽位,輸入槽位與輸入槽位之間呈上下分層排列,且所述每個(gè)輸入槽位分別用于承載一個(gè)COB料條;
輸出卡式系統(tǒng)位于所述測(cè)試料軌道的另一端,包括卡式系統(tǒng)軌道、安裝在卡式系統(tǒng)軌道上的定位架、垂直安裝在定位架的料盒臺(tái)以及垂直安裝在料盒臺(tái)上的輸入卡式料盒,所述輸出卡式料盒設(shè)有若干個(gè)輸出槽位,輸出槽位與輸出槽位之間呈上下分層排列,且所述每個(gè)輸出槽位內(nèi)分別用于承載一個(gè)COB料條;
推動(dòng)器帶動(dòng)輸入槽位內(nèi)COB料條直線移動(dòng),將COB料條由輸入槽位推送至測(cè)試料軌道;
測(cè)試料軌道內(nèi)還設(shè)有輸送器,所述輸送器帶動(dòng)單層COB料條直線移動(dòng),將COB料條由測(cè)試料軌道移動(dòng)至輸出槽位內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于:定位架上分別設(shè)置至少兩個(gè)彈簧鎖扣,使輸入卡式料盒緊靠定位架。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于:定位架設(shè)有至少一個(gè)螺絲釘,所述螺絲釘凸出的高度可以調(diào)節(jié),用于調(diào)節(jié)輸入卡式料盒和定位架之間的間隙。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于:所述COB自動(dòng)分選裝置還包括一個(gè)人工智能視覺系統(tǒng),其與中央控制系統(tǒng)連接,包括一個(gè)固定設(shè)置在測(cè)試料軌道下方的照相機(jī),當(dāng)COB料條被傳送到測(cè)試料軌道上時(shí),照相機(jī)可拍攝到COB料條的背面,并將COB料條背面照片傳送到中央控制系統(tǒng);中央控制系統(tǒng)對(duì)COB料條背面照片進(jìn)行定位分析。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于:所述COB自動(dòng)分選裝置還包括檢測(cè)裝置,位于靠近輸入卡式系統(tǒng)一側(cè)的測(cè)試料軌道上方且與中央控制系統(tǒng)連接,COB料條被輸送到測(cè)試料軌道上,檢測(cè)裝置可在中央控制系統(tǒng)的操控下移動(dòng)且與COB料條表面接觸進(jìn)行測(cè)試,并發(fā)送測(cè)試信息至中央控制系統(tǒng),檢測(cè)完畢后中央控制系統(tǒng)控制檢測(cè)裝置垂直上升。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于:所述檢測(cè)裝置包括多個(gè)探針,當(dāng)COB料條傳送到測(cè)試料軌道上,首先中央控制系統(tǒng)通過(guò)人工智能視覺系統(tǒng)判斷和調(diào)整COB料條與檢測(cè)裝置內(nèi)探針之間的相對(duì)位置以確保COB料條的芯片管腳與探針對(duì)準(zhǔn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于:COB自動(dòng)分選裝置可自動(dòng)設(shè)定檢測(cè)裝置沿垂直方向移動(dòng)的最佳距離,確保探針和COB料條上的芯片管腳全部接觸,所述自動(dòng)設(shè)定檢測(cè)裝置沿垂直方向移動(dòng)的最佳距離的方法包括如下步驟:
步驟1、首先在一條COB料條上貼上一層金屬面膠帶;
步驟2、把COB料條放在測(cè)試料軌道上;
步驟3、設(shè)定第一探針發(fā)出訊號(hào),第二探針接收訊號(hào),第一探針對(duì)應(yīng)COB料條的一側(cè)芯片管腳,第二探針對(duì)應(yīng)COB料條的另一側(cè)芯片管腳,由中央控制系統(tǒng)控制檢測(cè)裝置緩慢下降,實(shí)時(shí)檢測(cè)由第一探針發(fā)出的訊號(hào)是否由第二探針接收到,如果第一和第二探針均接觸到導(dǎo)電的金屬面膠帶,則第一探針發(fā)出訊號(hào)則會(huì)由第二探針接收到,此時(shí)則由中央控制系統(tǒng)控制檢測(cè)裝置停止下降,記錄檢測(cè)裝置的下降距離即為檢測(cè)裝置沿垂直方向移動(dòng)的最佳距離。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于:COB自動(dòng)分選裝置可自動(dòng)設(shè)定檢測(cè)裝置沿水平方向移動(dòng)的最佳距離,確保檢測(cè)裝置的探針與芯片管腳的中間位置接觸;所述自動(dòng)設(shè)定檢測(cè)裝置沿水平方向移動(dòng)的最佳距離的方法包括如下步驟:
步驟1、將COB料條放在測(cè)試料軌道上;
步驟2、控制檢測(cè)裝置沿水平方向的移動(dòng)到芯片管腳的一側(cè),此時(shí)探針沒(méi)有和芯片管腳接觸;
步驟3、檢測(cè)裝置沿水平方向從芯片管腳的一側(cè)緩慢移動(dòng)到芯片管腳的另一側(cè),在移動(dòng)過(guò)程中實(shí)時(shí)測(cè)試探針是否與芯片管腳接觸良好;
步驟4、中央控制系統(tǒng)記錄檢測(cè)裝置移動(dòng)過(guò)程中第一次檢測(cè)成功時(shí),檢測(cè)裝置水平方向移動(dòng)距離Xstart,然后重復(fù)步驟3,記錄檢測(cè)裝置最后一次檢測(cè)成功時(shí)檢測(cè)裝置水平方向移動(dòng)距離Xend,然后通過(guò)Xstart+(Xstart-Xend)/2獲得檢測(cè)裝置沿水平方向移動(dòng)的最佳距離。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述的COB自動(dòng)分選裝置,其特征在于:所述COB自動(dòng)分選裝置還包括一個(gè)與中央控制系統(tǒng)連接的自動(dòng)打點(diǎn)系統(tǒng)中央控制系統(tǒng)連接的自動(dòng)打點(diǎn)系統(tǒng),如果中央控制系統(tǒng)接收到測(cè)試信息不合格,則控制自動(dòng)打點(diǎn)系統(tǒng)下壓,在COB料條上按壓一個(gè)錯(cuò)誤標(biāo)志。
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