[發明專利]具主副步驟高壓多點測試設備及方法

有效

• 申請號: 201010271472.2
• 申請日: 2010-09-03
• 公開（公告）號: CN101930041A
• 公開（公告）日: 2010-12-29
• 發明（設計）人: 王耀南;董學祖;吳南世;賴竣榤
• 申請（專利權）人: 致茂電子(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R31/12
• 代理公司: 北京天平專利商標代理有限公司 11239
• 代理人: 孫剛

技術領域

本發明關于一種檢測設備，特別是指一種將多顆待測物以群組模式并接測試的具主副步驟高壓多點測試設備及方法。

背景技術

一般零件測試，如馬達、風扇或變壓器等，其品質檢驗必須使用耐壓機，進行高壓量測，以確認該待測物是否符合安全規格的耐電壓條件。

因此，為確保每個零件皆為良品，在每個零組件出廠前，皆要進行高壓測試程序，若以變壓器為例，該變壓器至少必須測試初級對鐵心、鐵心對次級及初級對次級等三次測試程序，若每次必須測試1秒，每個變壓器在測試上必須花上3秒鐘才能進行第2個變壓器的測試，造成測試時間冗長，浪費人力與時間，不符合經濟效益。

因此，為改善上述缺失，即有群組并聯測試設備問市，可同時測試多組變壓器，以達到節省測試時間及人力的目的；然而，同時測試多組待測物，雖然可縮短測試時間及人力，但測試群組中有不良品時，現階段是將群組內全部的待測物暫時判定不良，再通過冗長的測試程序做第二次測試，而如此的測試方式，容易因人員操作失誤，造成混料，且無法做數據統計分析。

另外，在實際進行高壓測試時，如果與待測物的接觸點接觸不良時，往往會發生弧光，長期下來會影響接觸點的壽命；又因為不良的接觸，可能高電壓并沒有確實地傳送到待測物，而發生耐電壓不良品被誤判為良品的情形。對高壓產生設備而言，上述弧光的產生會對設備本身，甚至對其它附屬的測試設備造成干擾，相對地影響設備的可靠度以及穩定性，進而影響的測試結果的可靠性。

由此可見，上述習用測試設備及測試方法具有極大的缺失有待改進。

發明內容

本發明的第一目的即在于提供一種具主副步驟高壓多點測試設備及方法，以主、副測試步驟分離模式測試待測物，以達到減少測試時間，提高測試速度的目的。

本發明的第二目的在于提供一種具主副步驟高壓多點測試設備及方法，當主步驟測試程序判定測試待測物群組發生不良時，即會自動進入副步驟測試程序，針對個別待測物進行測試，找出真正不良品。

本發明的第三目的在于提供一種具主副步驟高壓多點測試設備及方法，將真正的不良待測物位置顯示在面板上，讓操作人員極易將不良品剔除。

本發明的第四目的在于提供一種具主高壓多點測試設備及方法，將真正的不良待測物位置訊號輸出于背板接點上，藉由自動設備將不良品剔除。

本發明的第五目的在于提供一種具主高壓多點測試設備及方法，提供高壓測試前先進行與待測物間的接觸檢查，以避免測試失誤。

可達成上述發明目的的具主副步驟高壓多點測試設備，包括：一高/低壓切換裝置，其包含數個高壓開關及數個低壓開關，該高/低壓切換裝置的電壓輸出模式為高壓開關與低壓開關啟閉的切換；一測試通道組，其包含多個測試通道，每一個測試通道皆搭配高/低壓切換裝置的一個高壓開關及一個低壓開關，使單一測試通道用以變換電壓輸出模式；一高壓產生裝置，其具有一高壓端及一低壓端，該高壓端與高/低壓切換裝置的全部高壓開關連接；一電流偵測裝置，其與連接于高壓產生裝置的該低壓端與高低壓切換裝置間，用以偵測電流值；以及一中央控制單元，用以儲存主步驟測試程序及副步驟測試程序，該主步驟測試程序及副步驟測試程序的測試參數包含測試電壓、測試時間，該中央控制單元會驅使高壓產生裝置產生高壓輸出及控制高/低壓切換裝置的電壓輸出模式，使輸出通道組用以輸出多組高電壓及多組低電壓信號，以同時對多個待測物進行偵測，并會接收電流偵測裝置傳送的電流信號。

可達成上述發明目的的具主副步驟高壓多點測試方法，包括：

(1)通過一用以儲存主步驟測試程序及副步驟測試程序的中央控制單元，驅使一高壓產生裝置產生高壓輸出及控制一高/低壓切換裝置的電壓輸出模式；

(2)該輸出通道組輸出多組高電壓及多組低電壓信號，以同時對多個待測物進行偵測，并接收一電流偵測裝置傳送的電流信號；

(3)進行主步驟測試程序，通過中央控制單元驅使高壓產生裝置經由高壓端輸出高電壓，經輸出通道組傳送至待測物，經由電流偵測裝置偵測電流信號，并將電流信號傳送至中央控制單元中判讀，以判斷全部待測物狀態，若該測試群組中的待物測有任一不良品時，則進入副步驟測試程序；以及

(4)進入副步驟測試程序，進行個別待測物的高壓測試，經由中央控制單元驅使高壓產生裝置經高壓端輸出高電壓順序至各待測物，并由各待測物輸出低電壓回高壓產生裝置，該中央控制單元經由電流偵測裝置擷取的電流值，分別判斷各待測物狀態，并將測試結果傳送至顯示裝置顯示。重復步驟(4)，進行次一待測物的高壓測試，直至全部待測物皆個別測試完成，以找出不良品的待測物。