[發明專利]具主副步驟高壓多點測試設備及方法有效
| 申請號: | 201010271472.2 | 申請日: | 2010-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN101930041A | 公開(公告)日: | 2010-12-29 |
| 發明(設計)人: | 王耀南;董學祖;吳南世;賴竣榤 | 申請(專利權)人: | 致茂電子(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/01 | 分類號: | G01R31/01;G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京天平專利商標代理有限公司 11239 | 代理人: | 孫剛 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具主副 步驟 高壓 多點 測試 設備 方法 | ||
1.一種主副步驟高壓多點測試設備,包括有:
一高/低壓切換裝置,其包含數個高壓開關及數個低壓開關;
一測試通道組,其包含多個測試通道,每一組測試通道皆搭配該高/低壓切換裝置的一個高壓開關及一個低壓開關,使單一測試通道用以變換電壓輸出模式;
一高壓產生裝置,其具有一高壓端及一低壓端,該高壓端與高/低壓切換裝置的全部高壓開關電性連接;
一電流偵測裝置,其連接于高壓產生裝置的該低壓端與高/低壓切換裝置間,用以偵測電流值;以及
一中央控制單元,用以執行主步驟測試程序及副步驟測試程序,該中央控制單元驅使高壓產生裝置產生高壓輸出及控制高/低壓切換裝置的電壓輸出模式,使輸出通道組用以輸出多組高電壓及多組低電壓信號,以同時對多組待測物進行偵測,并會接收電流偵測裝置傳送的電流信號。
2.如權利要求1所述的主副步驟高壓多點測試設備,其特征在于,該高/低壓切換裝置的電壓輸出模式為高壓開關與低壓開關啟閉的切換。
3.如權利要求1所述的主副步驟高壓多點測試設備,其特征在于,該主步驟測試程序及副步驟測試程序的測試參數包含測試電壓、測試時間。
4.如權利要求1所述的主副步驟高壓多點測試設備,其特征在于,該高壓產生裝置為變壓器。
5.一種具有主副步驟的高壓多點測試方法,用以測試連接于一高壓多點測試設備的輸出通道組上的多個待測物,該測試方法包括:
(1)通過一用以儲存主步驟測試程序及副步驟測試程序的中央控制單元,驅使一高壓產生裝置產生高壓輸出及控制一高/低壓切換裝置的電壓輸出模式;
(2)該輸出通道組輸出多組高電壓及多組低電壓信號,以同時對多組待測物進行偵測,并接收一電流偵測裝置傳送的電流信號;
(3)進行主步驟測試程序,通過中央控制單元驅使高壓產生裝置經由高壓端輸出高電壓,經輸出通道組傳送至待測物,經由電流偵測裝置偵測電流信號,并將電流信號傳送至中央控制單元中判讀,以判斷全部待測物狀態,若該測試群組中的待物測有任一不良品時,則進入副步驟測試程序;以及
(4)進入副步驟測試程序,進行個別待測物的高壓測試,經由中央控制單元驅使高壓產生裝置經高壓端輸出高電壓順序至各待測物,并由各待測物輸出低電壓回高壓產生裝置,該中央控制單元經由電流偵測裝置擷取的電流值,分別判斷各待測物狀態,并將測試結果傳送至顯示裝置。
6.如權利要求5所述的具有主副步驟的高壓多點測試方法,其特征在于,還包括重復上步驟(4),進行次一待測物的高壓測試,直至全部待測物皆個別測試完成,以找出不良品的待測物。
7.如權利要求5所述的具有主副步驟的高壓多點測試方法,其特征在于,更包含一接觸點檢查步驟(2-1),對每一個群組個別進行接觸測試,經由中央控制單元驅使高壓產生裝置經高壓端輸出一電壓值至待測物,通過電流偵測裝置偵測的電流值,中央控制單元判斷該測試群組是否有接觸不良的情況。
8.如權利要求5所述的具有主副步驟的高壓多點測試方法,其特征在于,該步驟(4)的測試結果傳送至高壓多點測試設備的背板輸出。
9.如權利要求5所述的具有主副步驟的高壓多點測試方法,其特征在于,更包含一步驟,將全部待測物的測試點腳位與測試通道組的各個測試通道相連接,每個測試通道藉由高低壓切換裝置的高壓開關及低壓開關的切換,以任意輸出設定的高壓或低壓或不輸出電壓。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于致茂電子(蘇州)有限公司,未經致茂電子(蘇州)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010271472.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





