[發明專利]一種魯棒的玻璃劃傷缺陷檢測方法及其裝置

有效

• 申請號: 201010266622.0
• 申請日: 2010-08-30
• 公開（公告）號: CN101995412A
• 公開（公告）日: 2011-03-30
• 發明（設計）人: 柴秀娟;陳熙霖;武斌;崔振;鄭媛;陳海峰
• 申請（專利權）人: 中國科學院計算技術研究所;圣戈班研發（上海）有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 祁建國;梁揮

1.一種魯棒的玻璃劃傷缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

步驟1，對輸入的玻璃圖像進行窗口掃描，根據窗口內灰度分布的均衡性度量，得到候選缺陷窗口，根據劃傷特征對所述候選缺陷窗口進行分析，得到包含劃傷的劃傷窗口；

步驟2，對所述劃傷窗口進行合并，得到劃傷區域；

步驟3，對所述劃傷區域進行延展，得到完整的劃傷區域。

2.根據權利要求1所述的魯棒的玻璃劃傷缺陷檢測方法，其特征在于，

所述步驟1中，進一步包括：

用窗口內區域的灰度方差作為窗口內灰度分布的均衡性度量，以獲取所述候選缺陷窗口，灰度方差公式如下：

v=Σx∈W(x-x‾)(x-x‾)]]>

其中，

v是灰度方差，x是窗口W中像素對應的亮度值，是窗口內所有像素亮度的均值，T_W是灰度方差的經驗閾值，若v＞T_w，則認為窗口區域可能包含有缺陷，否則認為此窗口區域為背景區域。

3.根據權利要求1或2所述的魯棒的玻璃劃傷缺陷檢測方法，其特征在于，

所述步驟1中，得到所述劃傷窗口的步驟包括：

對所述候選缺陷窗口進行二值化操作，得到二值圖像，并從所述二值圖像中提取缺陷像素；

基于所述二值圖像，根據劃傷在小窗口內近似為直線的特征，對所述缺陷像素進行直線擬合，由擬合誤差判斷所述候選缺陷窗口是否包含劃傷線段，進而確定所述劃傷窗口。

4.根據權利要求3所述的魯棒的玻璃劃傷缺陷檢測方法，其特征在于，

所述步驟1中，以如下公式提取所述缺陷像素：

Ib(x,y)=0,if I(x,y)>T255,else]]>

其中，

I_b(x，y)是進行缺陷提取后的像素灰度值，若為0，則該像素為非缺陷像素，若為255，則該像素為缺陷像素，I(x，y)是候選缺陷窗口中的灰度值，T是指灰度的經驗閾值，T＝(I_min(x，y)+I_max(x，y))/2，I_min(x，y)和I_max(x，y)分別是候選缺陷窗口中的最小灰度值、最大灰度值。