[發明專利]大米加工精度的檢測方法

無效

• 申請號: 201010255140.5
• 申請日: 2010-08-17
• 公開（公告）號: CN101915712A
• 公開（公告）日: 2010-12-15
• 發明（設計）人: 趙永進;方輝;鄧小春;韓赟;黃海軍;華欽
• 申請（專利權）人: 國家糧食儲備局無錫科學研究設計院
• 主分類號: G01N5/04
• 分類號: G01N5/04
• 代理公司: 無錫華源專利事務所 32228
• 代理人: 聶漢欽

技術領域

本發明涉及大米加工技術領域，尤其涉及大米加工精度的檢測。

背景技術

現有的大米加工精度的檢驗，一般按照國家標準《大米GB1354-2009》，主要有以下幾種方法：

1．直接比較法：利用米類與相應的加工精度等級標準樣品對照比較，通過觀測判定加工精度等級。

2．染色法：利用大米各不同組織成分對各種染色基團分子的親和力不同，經染色處理后，米粒各組織呈現不同的顏色，從而判定大米的加工精度。.

上述兩種方法主要存在如下缺點：直接比較法和染色法，是一種定性檢測，主觀性強、隨意性大、準確性不高和效率低。

除上述方法外，還有以下見報道的方法：化學方法，如磷含量分析法、脂肪萃取法等；光電法；計算機圖像識別法，如染色圖象識別法（其原理實質認為染色法）、透射圖象識別法等、光譜分析檢測法等等。這些檢測方法所需要的檢驗儀器（設備）復雜、投入較高、對檢驗人員的操作要求高、檢驗程序復雜、耗時較長等，而且除直接對比法外，其他方法的檢驗樣品無法回收而只能作為廢棄物。

在實際生產中各工廠廣泛將成品出米率（以稻谷或糙米為基數）作為一項重要的技術經濟指標，而現有上述的檢測方法無法進行與成品出米率的量化關聯研究，無法對實際生產起到很好的指導作用。同時現有檢測方法主要針對成品大米，而不適合加工過程中的中間產品的加工精度檢測。

發明內容

針對現有技術存在的上述不足，申請人公開了一種大米加工精度的檢測方法，檢測成本低且檢測效率高，檢測操作簡單方便。

本發明所采用的技術方案如下：

本發明采用如下步驟檢驗：

（1）、米粒取樣：對加工前米粒以及加工后米粒的取樣；

（2）、取樣米粒的整理：剔除取樣米粒中的雜質以及不完整米粒；

（3）、取樣米粒的稱重：稱取單位數量的加工前取樣米粒的重量以及加

工后取樣米粒的重量；

（4）、大米加工精度的計算，計算公式如下：

??????MDr=Wr/Wb

????????式中：

MDr—加工后米粒的加工精度；

Wb—單位數量的加工前取樣米粒的重量；

?Wr—單位數量的加工后取樣米粒的重量。

進一步地技術方案是上述加工前米粒為糙米，加工后米粒為半成品米。

本法明的技術效果在于檢測成本低且檢測效率高，檢驗步驟簡單明確，可以通過量化的數值來反映大米的加工精度，有利于生產管理及研究。

具體實施方式

大米加工的過程就是將糙米皮層碾去，并達到某個精度要求。一般大米加工廠的加工采用一機出米、或二機出米、或三機出米甚至更多機出米等不同工藝流程。每一道表皮碾除，糙米顆粒的重量就相應減少一些。本發明的思路是根據糙米、不同的半成品米（指已被碾去部分皮層、但尚未達到精度要求的糙米）、成品大米（指達到精度要求）各自的單位數量顆粒的重量變化，檢驗大米的加工精度。前述的一機或多機出米指通過一道或多道碾米機加工出米，碾米機的道數越多，大米的加工精度越高，碾米機及其具體加工工序為本領域的公知技術。

實施例1

為測定成品大米加工精度的具體實施步驟：

步驟一：取樣

分別提取約500至1000克的糙米及成品大米樣品。糙米樣品的提取位置在頭道碾米機入料口前，成品大米樣品的提取位置在最后一道碾米機或拋光機出料口處。

步驟二：對取樣樣品進行整理

步驟2.1，按GB/T5494的規定去除樣品中的雜質、不完善米粒等，具體步驟如下：

每次取試樣約100克放入直徑1.0mm圓孔篩內，用電動篩選器法或手篩法進行篩選。其中電動篩選器法如下：按GB/T5494中規定的篩層套好（大孔篩在上，小孔篩在下，套上篩底），按規定取試樣放入篩上，蓋上篩蓋，放在電動篩選器上，接通電源，打開開關，選篩速度為110r/min—120r/min，篩后靜止片刻，篩后輕拍篩子使糠粉落入篩底，將篩上物和篩下物分別倒入分析盤內，卡在篩孔中間的顆粒屬于篩上物，從中撿出稻谷粒、帶殼稗粒及其他雜質等。

上述篩選步驟也可用手篩法代替，具體步驟如下：按電動篩選器法將篩層套好，倒入試樣，蓋好篩蓋。然后將篩選器放在玻璃板或光滑的桌面上，用雙手以110次/?min—120次/?min的速度，按順時針和反時針方向各篩動1min，篩動的范圍掌握在選篩直徑擴大8cm—10cm。篩后的操作與電動篩選器法相同。

步驟2.2，按GB/T?5503的規定去除樣品中的碎粒：