[發明專利]大米加工精度的檢測方法無效
| 申請號： | 201010255140.5 | 申請日： | 2010-08-17 |
| 公開（公告）號： | CN101915712A | 公開（公告）日： | 2010-12-15 |
| 發明（設計）人： | 趙永進;方輝;鄧小春;韓赟;黃海軍;華欽 | 申請（專利權）人： | 國家糧食儲備局無錫科學研究設計院 |
| 主分類號： | G01N5/04 | 分類號： | G01N5/04 |
| 代理公司： | 無錫華源專利事務所 32228 | 代理人： | 聶漢欽 |
| 地址： | 214000 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 大米 加工 精度 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種大米加工精度的檢測方法，其特征在于檢測步驟如下：
（1）、米粒取樣：對加工前米粒以及加工后米粒的取樣；
（2）、取樣米粒的整理：剔除取樣米粒中的雜質以及不完整米粒；
（3）、取樣米粒的稱重：稱取單位數量的加工前取樣米粒的重量以及加工后取樣米粒的重量；
（4）、大米加工精度的計算，計算公式如下：
??????MDr=Wr/Wb
????????式中：
MDr—加工后米粒的加工精度；
Wb—單位數量的加工前取樣米粒的重量；
Wr—單位數量的加工后取樣米粒的重量。
2.按照權利要求1所述大米加工精度的檢測方法，其特征在于：所述加工前米粒為糙米，加工后米粒為半成品米。
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