[發(fā)明專利]半導體裝置的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010254687.3 | 申請日: | 2010-08-13 |
| 公開(公告)號: | CN101996858A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發(fā)明(設計)人: | 呂詠錚;陳明發(fā);陳承先;黃招勝 | 申請(專利權)人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/00 | 分類號: | H01L21/00;H01L21/683 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產(chǎn)權代理有限公司 72003 | 代理人: | 姜燕;陳晨 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝置 制造 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及一種制造半導體裝置的系統(tǒng)及方法,尤其涉及一種工藝進行期間運送及支承半導體晶片的系統(tǒng)及方法。
背景技術
一般來說,靜電吸盤可在進行半導體晶片工藝期間使用,用以支承及運送半導體晶片及其載板。靜電吸盤不同于通過作為物理夾鉗的機械式吸盤來支承晶片,晶片與載板的支承是通過施加電荷于一平板上并產(chǎn)生靜電力以支承半導體晶片。上述配置允許靜電吸盤避免與晶片待處理側接觸(一種典型鉗夾機械式吸盤無法避免的接觸),進而防止晶片待處理側的損害。
然而,近年來半導體晶片的厚度下降,特別是基底通孔電極(through-substrate?via)的出現(xiàn)以及半導體晶片薄化需求,靜電吸盤出現(xiàn)了問題。也即,薄晶片通常采用絕緣載板(例如,玻璃)以幫助支承薄半導體晶片結構。然而,絕緣載板本身具有小庫倫力,且薄半導體晶片的庫倫力小于先前厚晶片,而為了在靜電吸盤與晶片/載板組合之間提供足夠的吸引力,以在吸盤上支承晶片/載板組合,這些晶片及載板需要越來越大的偏壓。然而,上述大偏壓不僅因為需要更多能量而增加制造成本,而且也會在半導體晶片進行工藝期間遭到損害。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術的問題,本發(fā)明一實施例中,一半導體裝置包括一半導體晶片載板。半導體晶片載板包括一介電材料。半導體晶片載板也包括一導電摻雜物,其位于介電材料內(nèi)。
本發(fā)明另一實施例中,一半導體裝置包括一半導體晶片載板,用以承載半導體晶片。半導體晶片載板也包括一介電材料。導電通孔結構位于介電材料內(nèi)。
本發(fā)明又一實施例中,一種半導體裝置的制造方法,包括:提供一半導體晶片,其包括一基底及延伸進入一部分的基底內(nèi)的一或多個基底通孔電極;提供一載板,其包括一或多個離子摻雜物;以及將半導體晶片貼附至載板。
本發(fā)明又另一實施例中,一種半導體裝置的制造方法,包括:提供一半導體晶片,其包括一基底及延伸進入一部分的基底內(nèi)的一或多個基底通孔電極;提供一載板,其包括多個導電通孔結構;以及將半導體晶片貼附至載板。
本發(fā)明又另一實施例中,一種半導體裝置的制造方法,包括:提供一載板,其包括一第一基底及位于第一基底內(nèi)的一或多個離子摻雜物;以及將載板貼附至一半導體晶片的一第一側,半導體晶片包括一半導體基底及延伸進入半導體基底內(nèi)的至少一導電通孔結構。
本發(fā)明可避免高電壓施加于半導體晶片所潛在的任何負面效應,并具有更便宜的制造程序。
附圖說明
圖1示出根據(jù)一實施例的半導體晶片、粘著層及載板剖面示意圖。
圖2示出根據(jù)一實施例將圖1中半導體晶片與載板放置于一靜電吸盤的剖面示意圖。
圖3示出根據(jù)一實施例的載板剖面示意圖,其包括導電層及通孔;以及
圖4示出根據(jù)一實施例將圖3中半導體晶片與載板放置于一靜電吸盤的剖面示意圖。
其中,附圖標記說明如下:
101~半導體晶片;
103~粘著層;
105~載板;
107、305~第一側;
109、307~第二側;
111~基底通孔電極;
201~靜電吸盤;
203~上表面;
205~電極;
207~電源;
209~開口;
301~導電層;
303~導電通孔結構。
具體實施方式
以下說明本發(fā)明實施例的制作與使用。然而,可輕易了解本發(fā)明實施例提供許多合適的發(fā)明概念而可實施于廣泛的各種特定背景。所揭示的特定實施例僅僅用于說明以特定方法制作及使用本發(fā)明,并非用以局限本發(fā)明的范圍。
以下實施例是以一特定背景作說明,也即一半導體晶片載板。然而,其他實施例也可應用于其他載板或支承結構。
請參照圖1,其示出一半導體晶片101、一粘著層103以及一載板105。通常半導體晶片101包括多個各自的芯片,其中每一芯片包括一基底,其上形成了公知電子裝置。基底上通常覆蓋了一或多層介電層及導電層。這些導電層提供下方電子裝置的連接及發(fā)送路線。
半導體晶片101可具有一第一側107,其上具有電子裝置、介電層及金屬層。半導體晶片101已可具有一第二側109位于背對第一側107處。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





