[發明專利]自動光學檢測模型圖的生成方法無效
| 申請號： | 201010243704.3 | 申請日： | 2010-08-03 |
| 公開（公告）號： | CN102346154A | 公開（公告）日： | 2012-02-08 |
| 發明（設計）人： | 曹春龍 | 申請（專利權）人： | 神訊電腦（昆山）有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/956 | 分類號： | G01N21/956 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 215300 江蘇省蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 自動 光學 檢測 模型 生成 方法 | ||
1.一種自動光學檢測模型圖的生成方法，該方法是在具有一第一光學檢測程序的基礎上進行的，該第一光學檢測程序可以生成一用于檢測第一機種的第一檢測模型圖，該方法用于一與第一機種相似的第二機種的光學檢測模型圖的生成，其特征在于，該方法包括下列步驟：
第一光學檢測程序可以生成一用于檢測第一機種的第一檢測模型圖；
第二機種的零件位置數據表與第一機種的零件位置數據表做比較得出一差異零件數據表；
根據上述差異零件數據表在第一檢測模型圖上對這些差異零件進行修改以生成一第二檢測模型圖。
2.根據權利要求1所述的自動光學檢測模型圖的生成方法，其特征在于，上述步驟：根據上述差異零件數據表在第一檢測模型圖上對這些差異零件進行修改以生成一第二檢測模型圖；在其之后還可以包括一步驟：根據該第二檢測模型圖生成一第二機種的第二光學檢測程序，用以進行第二機種的自動光學檢測。
3.根據權利要求1所述的自動光學檢測模型圖的生成方法，其特征在于，上述步驟：根據上述差異零件數據表在第一檢測模型圖上對這些差異零件進行修改以生成一第二檢測模型圖；該步驟還可以具體為步驟：計算出各差異零件在第一檢測模型圖上最近的零件位置，從而在第一檢測模型圖上進行修改各差異零件而生成第二檢測模型圖。
4.根據權利要求2所述的自動光學檢測模型圖的生成方法，其特征在于，上述步驟：根據上述差異零件數據表在第一檢測模型圖上對這些差異零件進行修改以生成一第二檢測模型圖；該步驟還可以具體為步驟：計算出各差異零件在第一檢測模型圖上最近的零件位置，從而在第一檢測模型圖上進行修改各差異零件而生成第二檢測模型圖。
5.根據權利要求1或2或3或4所述的自動光學檢測模型圖的生成方法，其特征在于，上述零件位置數據表中的數據包括零件的位號，坐標，角度。
6.根據權利要求5所述的自動光學檢測模型圖的生成方法，其特征在于，上述零件位置數據表中的數據還包括零件的料號。
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