[發明專利]一種測試測試元件擺放方法無效
| 申請號： | 201010242199.0 | 申請日： | 2010-08-02 |
| 公開（公告）號： | CN101923142A | 公開（公告）日： | 2010-12-22 |
| 發明（設計）人： | 劉方;王林;張柱;吳景霞 | 申請（專利權）人： | 浪潮電子信息產業股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 250014 山*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 元件 擺放 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種測試測試元件擺放方法，其特征在于，方法步驟是在集成電路IC芯片或較大元件底部的PCB板上設置有測試元件預留針腳孔，測試元件的上部與集成電路IC芯片或較大電子元件底部疊加在一起，測試元件的針腳插在測試元件預留針腳孔中，測試元件針腳下端向下露出PCB板，集成電路IC芯片性能測試時，通過露出PCB板的測試元件的針腳連接測試儀器或設備。
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