[發明專利]主板測試支架

無效

• 申請號: 201010239165.6
• 申請日: 2010-07-28
• 公開（公告）號: CN102339249A
• 公開（公告）日: 2012-02-01
• 發明（設計）人: 黃發生
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種主板測試支架。

背景技術

隨著電腦運算速度的不斷加快，作為電腦核心部件CPU的功耗也越來越大，相對應電腦CPU散熱要求也越來越高，而更高的散熱要求使得CPU散熱器越做越大，重量也隨之加重。在計算機主機板的研發和制造階段，需要單獨對主板進行信號完整性、功能型、可靠性等一系列的測試，此時主板沒有固定在機箱內，而是用一些螺柱加以支撐，此時過重的CPU散熱器會把主機板壓彎造成PCB形變，進而造成PCB內信號走線發生形變或斷裂。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種主板測試支架，以支撐主板以防止主板在測試時被壓彎變形。

一種主板測試支架，用于支撐一待測主板，所述主板測試支架包括一框架、一第一輔助支撐件及一第二輔助支撐件，所述框架包括一前壁、一后壁及兩側壁，所述前壁、后壁及兩側壁圍成一收容區，所述第一及第二輔助支撐件設置在所述前壁與所述后壁之間，所述第一及第二輔助支撐件的兩端分別固定在所述前壁及后壁的內側，所述第一及第二輔助支撐件的上表面與所述框架的前壁、后壁及兩側壁的上表面在同一平面，所述第一及第二輔助支撐件及所述框架上均設有對應所述待測主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿過所述待測主板上的通孔及所述主板測試支架上的螺孔來固定并支撐所述待測主板。

本發明主板測試支架包括所述框架、所述第一輔助支撐件及第二輔助支撐件，當所述待測主板進行測試時通過所述框架、所述第一及第二輔助支撐件可以對所述待測主板進行有效地支撐，從而防止了所述待測主板在測試時被壓彎變形。

附圖說明

下面結合附圖及較佳實施方式對本發明作進一步詳細描述：

圖1是本發明主板測試支架第一較佳較佳實施方式的示意圖。

圖2是圖1主板測試支架支撐的待測主板的示意圖。

圖3是圖1主板測試支架支撐待測主板的示意圖。

圖4是本發明主板測試支架第二較佳較佳實施方式的示意圖。

主要元件符號說明

待測主板??????????1

第一列通孔????????2

第二列通孔????????3

第三列通孔????????4

第四列通孔????????5

公頭螺柱??????????6

母頭螺柱??????????7

滑槽??????????????8

散熱元件??????????9

框架??????????????10

前壁??????????????11

后壁??????????????12

側壁??????????????13

收容區????????????14

第一輔助支撐件????20

第二輔助支撐件????30

第一列螺孔??????41

第二列螺孔??????42

第三列螺孔??????43

第四列螺孔??????44

層絕緣材料??????50

主板測試支架????100

具體實施方式

請參考圖1及圖2，本發明主板測試支架100用于支撐一待測主板1。所述主板測試支架100第一較佳實施方式包括一框架10、一第一輔助支撐件20及一第二輔助支撐件30。所述框架10、所述第一及第二輔助支撐件20、30是由剛性材料制成的。所述待測主板1的兩側緣處開設有第一及第二列通孔2、3，所述待測主板1還在靠近其一側緣處開設有平行于其兩側緣的第三及第四列通孔4、5。一散熱元件9設置于所述第二列通孔3與所述第四列通孔5之間。