[發明專利]主板測試支架

無效

• 申請號: 201010239165.6
• 申請日: 2010-07-28
• 公開（公告）號: CN102339249A
• 公開（公告）日: 2012-02-01
• 發明（設計）人: 黃發生
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種主板測試支架，用于支撐一待測主板，所述主板測試支架包括一框架、一第一輔助支撐件及一第二輔助支撐件，所述框架包括一前壁、一后壁及兩側壁，所述前壁、后壁及兩側壁圍成一收容區，所述第一及第二輔助支撐件設置在所述前壁與所述后壁之間，所述第一及第二輔助支撐件的兩端分別固定在所述前壁及后壁的內側，所述第一及第二輔助支撐件的上表面與所述框架的前壁、后壁及兩側壁的上表面在同一平面，所述第一及第二輔助支撐件及所述框架上均設有對應所述待測主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿過所述待測主板上的通孔及所述主板測試支架上的螺孔來固定并支撐所述待測主板。

2.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于：所述框架的前壁及后壁的內側分別開設一滑槽使所述第一及第二輔助支撐件的兩端分別容置并滑動固定在所述前壁及后壁的滑槽內。

3.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于：所述待測主板的兩側緣處開設有第一及第二列通孔，所述待測主板還在靠近其一側緣處開設有平行于其兩側緣的第三及第四列通孔，所述框架的兩側壁上分別開設對應所述待測主板的第一及第二列通孔的第一及第二列螺孔，所述第一輔助支撐件上開設對應所述待測主板的第三列通孔的第三列螺孔，所述第二輔助支撐件上開設對應所述待測主板上的第四列通孔的第四列螺孔。

4.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于：所述框架、所述第一及第二輔助支撐件均由剛性材料制成。

5.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于：所述第一及第二輔助支撐件的上表面與所述框架的上表面除了螺孔的位置外均貼附一層絕緣材料。

6.如權利要求1所述的主板測試支架，其特征在于：所述框架的輪廓尺寸與所述待測主板的輪廓尺寸相同。