[發明專利]元器件長壽命評測方法

有效

• 申請號: 201010238799.X
• 申請日: 2010-07-26
• 公開（公告）號: CN101963636A
• 公開（公告）日: 2011-02-02
• 發明（設計）人: 王群勇;陳冬梅;陽輝;白樺;鐘征宇;吳文章;陳宇;劉燕芳;宋巖
• 申請（專利權）人: 北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/28
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種元器件長壽命評測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1，對待測元器件的硬件及性能、元器件的使用平臺及應用環境進行分析，初步選取試驗設備；

S2，根據步驟S1的分析結果，確定影響待測元器件壽命的應力因子、加速因子和響應敏感參數以及元器件壽命的受控因子、未受控因子及響應參數表征，進而初步選取對待測元器件進行加速壽命試驗的敏感參數；

S3，利用所述步驟S1中選取的試驗設備以及所述步驟S2中選取的所述敏感參數進行摸底試驗，根據所述摸底試驗的結果確定所述應力因子的施加順序以及響應敏感參數的分析方法，確定對待測元器件進行加速壽命試驗的敏感參數，并確定試驗設備；

S4，根據所述步驟S3中所確定的所述敏感參數和試驗設備，并按照所述應力因子的施加順序對所述待測元器件進行加速壽命試驗，以獲取不同時刻的敏感參數的值；

S5，利用圖形軟件對所述步驟S4中的敏感參數的值進行圖形化分析，得到所述元器件加速壽命試驗的敏感參數隨時間變化的圖形，將所述圖形與加速模型和壽命預計模型進行擬合比較，選出與所述圖形擬合程度最高的加速模型和壽命預計模型；

S6，驗證所述加速模型和壽命預計模型是否有效，若是，則利用所述模型對元器件長壽命進行評測，否則重復步驟S3-S5。

2.如權利要求1所述的元器件長壽命評測方法，其特征在于，在所述步驟S3中所確定的對待測元器件進行加速壽命試驗的敏感參數為：具有明顯的時間退化特征、且表征所述元器件的物理失效的敏感參數。

3.如權利要求1所述的元器件長壽面評測方法，其特征在于，所述步驟S3中確定試驗設備的方法為：選擇高穩定工作環境、具有高精度退化參數以及高速測量與采集性能的設備。

4.如權利要求1所述的元器件長壽命評測方法，其特征在于，所述步驟S3中的試驗設備為高穩定度溫度箱、溫-濕度試驗箱、綜合環境試驗箱、熱真空試驗箱、程控高精度電源以及高速度數據采集儀器中的一種或幾種。

5.如權利要求4所述的元器件長壽命評測方法，其特征在于，所述高溫度穩定度試驗箱的溫度的精度為±0.1℃。

6.如權利要求4所述的元器件長壽命評測方法，其特征在于，所述高精度敏感參數測量儀器為8位半程控數字表。