[發明專利]一種物理版圖仿真自動控制寄生參數提取精度的方法

有效

• 申請號: 201010236533.1
• 申請日: 2010-07-26
• 公開（公告）號: CN102339341A
• 公開（公告）日: 2012-02-01
• 發明（設計）人: 吳玉平;陳嵐;葉甜春
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京市德權律師事務所 11302
• 代理人: 王建國

1.一種物理版圖仿真自動控制寄生參數提取精度的方法，其特征在于，所述方法包括：

步驟1：輸入門級電路網表/電路網表/電路圖數據、物理版圖數據以及門級仿真結果和/或電路級前仿真結果數據；

步驟2：對所述門級仿真結果和/或電路級前仿真結果進行數據分析，得出電路線網上信號的類型；

步驟3：對所述門級電路網表/電路網表/電路圖數據進行電路分析，并根據電路分析結果和所述門級仿真結果和/或電路級前仿真結果的分析結果，對器件和線網進行分類，確定關鍵器件和關鍵線網；根據電路分析結果確定的信號流路徑和各器件在信號流路徑上的連接信息，確定敏感線網和敏感器件；根據所述信號變化頻率和變化幅度，確定分類中的噪聲源器件和噪聲源線網；

步驟4：確定分類結果中各器件和線網在物理版圖上的位置；

步驟5：按照確定后位置對所述物理版圖提取區域的精度控制進行分類；

步驟6：將分類后的各個區域的精度控制信息傳給寄生參數提取程序。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟2具體包括：

步驟21：找出每一信號在門級仿真結果和/或電路級前仿真結果中的所有數值，以單位時間內的信號最大變化來確定相應信號在仿真過程中的變化頻率；

步驟22：找出每一信號在門級仿真結果和/或電路級前仿真結果中的所有數值，得出對應信號的最小值和最大值以此確定這個信號在仿真過程中的變化幅度；

步驟23：根據每一信號在門級仿真結果和/或電路級前仿真結果中的數值，確定相應信號在仿真過程中的是數字信號變化還是模擬信號變化。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟4具體包括：

步驟41：利用提取算法提取器件和物理線網；

步驟42：利用圖像同構算法或LVS原理定位器件和物理線網在物理版圖上的位置。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟5具體包括：

步驟51：對所述物理版圖進行區域劃分；

步驟52：根據區域內的器件和線網的分類，確定區域內寄生參數提取控制精度；

步驟53：若區域內存在多種寄生參數提取控制精度，進一步劃分區域直至每一區域內僅有一種寄生參數提取控制精度。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述步驟52具體為：根據區域內的器件和線網的分類結果，基于寄生參數提取精度控制表，確定區域內的寄生參數提取精度控制值；選取最大的精度控制值作為所述區域內的寄生參數提取控制精度。