[發(fā)明專利]具有溝槽底部多晶硅結(jié)構(gòu)的功率半導(dǎo)體及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010230893.0 | 申請(qǐng)日: | 2010-07-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102339851A | 公開(公告)日: | 2012-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 涂高維 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 科軒微電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人: | 王月玲;武玉琴 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 溝槽 底部 多晶 結(jié)構(gòu) 功率 半導(dǎo)體 及其 制造 方法 | ||
1.一種功率半導(dǎo)體,其特征在于,包括:
一第一導(dǎo)電型的基材;
一溝槽,形成于該基材內(nèi);
一重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu),位于該溝槽的一下部份,并且,該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)的至少一側(cè)邊是直接接觸該基材;
一導(dǎo)電結(jié)構(gòu),位于該溝槽的一上部份;
一柵極介電層,位于該導(dǎo)電結(jié)構(gòu)與該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)之間;以及
一第二導(dǎo)電型的本體,位于該基材內(nèi);
其中,該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)內(nèi)的摻雜是至少通過(guò)該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)的該側(cè)邊向外擴(kuò)散以形成一重?fù)诫s區(qū)。
2.如權(quán)利要求1所述的功率半導(dǎo)體,其特征在于,更包括一介電層,該介電層位于該溝槽的一底面,該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)是位于該介電層上方。
3.如權(quán)利要求1所述的功率半導(dǎo)體,其特征在于,該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)為該第一導(dǎo)電型。
4.如權(quán)利要求1所述的功率半導(dǎo)體,其特征在于,該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)為該第二導(dǎo)電型。
5.如權(quán)利要求4所述的功率半導(dǎo)體,其特征在于,該重?fù)诫s區(qū)是連接該本體。
6.如權(quán)利要求1所述的功率半導(dǎo)體,其特征在于,該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)是由多個(gè)重?fù)诫s多晶硅層堆棧而成,并且,該些重?fù)诫s多晶硅層是通過(guò)至少一介電層區(qū)分隔開來(lái)。
7.如權(quán)利要求6所述的功率半導(dǎo)體,其特征在于,該重?fù)诫s區(qū)是由多個(gè)重?fù)诫s子區(qū)所構(gòu)成,各該重?fù)诫s子區(qū)分別對(duì)應(yīng)于該些重?fù)诫s多晶硅層,并且,至少部分該些重?fù)诫s子區(qū)是互相連接。
8.如權(quán)利要求1所述的功率半導(dǎo)體,其特征在于,該導(dǎo)電結(jié)構(gòu)是一柵極多晶硅結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求1所述的功率半導(dǎo)體,其特征在于,該導(dǎo)電結(jié)構(gòu)是電性連接至一源極。
10.一種功率半導(dǎo)體的制造方法,其特征在于,包括:
提供一第一導(dǎo)電型的基材;
形成一溝槽于該基材內(nèi);
形成一重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)于該溝槽的一下部份內(nèi),該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)的至少一側(cè)邊是直接接觸該基材;
形成一柵極介電層至少覆蓋該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)的一上表面;
形成一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)于該溝槽的一上部份;以及
施以一熱擴(kuò)散制程,使該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)的摻雜向外擴(kuò)散以形成一重?fù)诫s區(qū)至少環(huán)繞該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)的該側(cè)邊。
11.如權(quán)利要求10所述的功率半導(dǎo)體的制造方法,其特征在于,在形成該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)的步驟前,更包括形成一介電層于該溝槽的一底面。
12.如權(quán)利要求10所述的功率半導(dǎo)體的制造方法,其特征在于,該熱擴(kuò)散制程同時(shí)用以形成一第二導(dǎo)電型的本體。
13.如權(quán)利要求10所述的功率半導(dǎo)體的制造方法,其特征在于,該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)為該第一導(dǎo)電型。
14.如權(quán)利要求10所述的功率半導(dǎo)體的制造方法,其特征在于,該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)為一第二導(dǎo)電型。
15.如權(quán)利要求14所述的功率半導(dǎo)體的制造方法,其特征在于,形成該重?fù)诫s多晶硅結(jié)構(gòu)的步驟包括:
形成一第一重?fù)诫s多晶硅層于該溝槽內(nèi);
形成一第一介電層覆蓋該第一重?fù)诫s多晶硅層;以及
形成一第二重?fù)诫s多晶硅層于該第一介電層上方。
16.如權(quán)利要求10所述的功率半導(dǎo)體的制造方法,其特征在于,該導(dǎo)電結(jié)構(gòu)是一柵極多晶硅結(jié)構(gòu)。
17.如權(quán)利要求10所述的功率半導(dǎo)體的制造方法,其特征在于,更包括,沉積一源極金屬層電性連接該導(dǎo)電結(jié)構(gòu)。
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H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





