[發明專利]一種模擬集成電路設計調試的方法

有效

• 申請號: 201010230150.3
• 申請日: 2010-07-19
• 公開（公告）號: CN102339328A
• 公開（公告）日: 2012-02-01
• 發明（設計）人: 吳玉平;陳嵐;葉甜春
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京市德權律師事務所 11302
• 代理人: 王建國

技術領域

本發明屬于集成電路設計領域，尤其涉及一種模擬集成電路設計調試的方法。

背景技術

設計調試是模擬集成電路設計的重要環節。然而，在現有技術下，由于缺乏有效的設計自動化軟件工具的支持，設計調試主要由設計人員手工進行，設計人員需要手工分析電路仿真波形，根據波形問題確定可能的問題器件之所在，然后試著去修改可能的器件參數，經過反復試驗確定問題的具體位置，再通過反復試驗修改并確定問題器件的參數值。傳統手工方法的缺點是：一是速度慢，二是依賴設計人員的經驗和知識，制約了模擬集成電路設計效率的提高。為了提高模擬集成電路的設計效率，需要有效的設計自動化工具的支持。

發明內容

本發明的目的在于提供一種模擬集成電路設計調試的方法，旨在解決現有模擬集成電路設計調試方法依賴設計人員的經驗和知識，模擬集成電路設計效率低、速度慢的問題。

本發明是這樣實現的，一種模擬集成電路設計調試的方法，該方法包括以下步驟：

根據電路分析自動建立器件參數對電路性能的影響趨勢表；

分析模擬集成電路的仿真波形，確定模擬集成電路的問題波形；

根據問題波形定位問題器件及修改參數；

根據影響趨勢表、問題器件的修改參數以及模擬集成電路性能與設計指標之間的差異確定問題器件的參數修改方向、修改范圍和修改參考值；

根據問題器件參數的修改方向、修改范圍和修改參考值，確定問題器件新的器件參數值。

本發明通過分析模擬集成電路的仿真波形，確定問題波形、問題器件修改參數及參數修改方向、修改范圍和修改參考值，并據此確定問題器件新的器件參數值，解決了現行模擬集成電路設計調試依賴設計人員的經驗和知識，設計效率低、速度慢的問題，同時提高了模擬電路設計調試的自動化水平。

附圖說明

圖1是本發明實施例提供的模擬集成電路設計調試的方法的實現流程圖；

圖2是本發明實施例提供的建立器件參數對電路性能的影響趨勢表的方法的流程圖；

圖3是本發明實施例提供的確定模擬集成電路問題波形的方法的流程圖；

圖4是本發明實施例提供的確定問題器件修改參數的方法的實現流程圖；

圖5是本發明實施例提供的確定問題器件參數的修改方向、修改范圍和修改參考值的方法的流程圖；

圖6是本發明實施例提供的確定問題器件的新的器件參數值的方法的流程圖。

具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。

本發明實施例通過分析模擬集成電路的仿真波形，確定問題波形、問題器件的修改參數及參數修改方向、修改范圍和修改參考值，并據此確定問題器件新的器件參數值。

本發明實施例是這樣實現的，一種模擬集成電路設計調試的方法，所述方法包括以下步驟：

根據電路分析自動建立器件參數對電路性能的影響趨勢表；

分析模擬集成電路的仿真波形，確定所述模擬集成電路的問題波形；

根據所述問題波形確定問題器件的修改參數；

根據所述影響趨勢表、問題器件的修改參數以及模擬集成電路性能與設計指標之間的差異確定問題器件的參數修改方向、修改范圍和修改參考值；

根據所述問題器件參數的修改方向、修改范圍和修改參考值，確定所述問題器件新的器件參數值。

以下結合附圖及實施例，對本發明作具體詳述如下：

圖1示出了本發明實施例提供的模擬集成電路設計調試的方法的實現流程，詳述如下：

在步驟S101中，根據電路分析建立器件參數對電路性能的影響趨勢表；

在步驟S102中，分析模擬集成電路的仿真波形，確定模擬集成電路的問題波形；

在步驟S103中，根據問題波形確定問題器件的修改參數；

在步驟S104中，根據影響趨勢表、問題器件的修改參數以及模擬集成電路性能與設計指標之間的差異確定問題器件的參數修改方向、修改范圍和修改參考值；

在步驟S105中，根據問題器件參數的修改方向、修改范圍和修改參考值，確定問題器件新的器件參數值。