[發明專利]一種模擬集成電路設計調試的方法

有效

• 申請號: 201010230150.3
• 申請日: 2010-07-19
• 公開（公告）號: CN102339328A
• 公開（公告）日: 2012-02-01
• 發明（設計）人: 吳玉平;陳嵐;葉甜春
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京市德權律師事務所 11302
• 代理人: 王建國

1.一種模擬集成電路設計調試的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

根據電路分析建立器件參數對電路性能的影響趨勢表；

分析模擬集成電路的仿真波形，確定模擬集成電路的問題波形；

根據所述問題波形確定問題器件的修改參數；

根據所述影響趨勢表、問題器件的修改參數以及模擬集成電路性能指標與設計指標之間的差異，確定所述問題器件參數的修改方向、修改范圍和修改參考值；

根據所述問題器件參數的修改方向、修改范圍和修改參考值，確定所述問題器件的新的器件參數值。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據電路分析建立器件參數對電路性能的影響趨勢表的步驟具體包括：

以當前電路的設計為基礎微擾動器件參數，產生新的設計網表；

根據所述設計網表，利用已有測試激勵仿真新的電路設計；

利用已有測量命令對所述仿真電路設計進行測量，得到電路性能的指標值；

為每一器件的參數變化對電路性能的指標值影響建立影響趨勢表；

按靈敏度從大到小對影響電路同一性能指標值的器件參數進行排序。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述分析模擬集成電路的仿真波形，確定模擬集成電路的問題波形的步驟具體包括：

比較模擬集成電路性能的設計值和目標值，找出模擬集成電路未滿足的電路性能指標項；

根據所述未滿足的電路性能指標項，找出電路性能測量指標項的直接波形；

根據所述直接波形找出電路性能測量指標項的間接波形。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述問題波形確定問題器件的修改參數的步驟具體包括：

按模擬集成電路性能設計值和目標值問的相對誤差，將模擬集成電路性能的指標項從大到小進行排列；

選取模擬集成電路性能指標項對應的參數修改序列；

按照參數對所述模擬集成電路性能指標項的影響大小，對所述參數修改序列進行排序。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述影響趨勢表、問題器件的修改參數以及模擬集成電路性能與設計指標之間的差異，確定所述問題器件參數的修改方向、修改范圍和修改參考值的步驟具體包括：

根據所述影響趨勢表以及模擬集成電路性能與設計指標值之差，確定所述問題器件參數的修改方向；

根據所述問題器件參數在當前點對模擬集成電路性能影響的最小靈敏度值和最大靈敏度值，確定所述問題器件參數修改的最大值和最小值；

利用加權平均算法，將問題器件參數在當前點對模擬集成電路性能影響的最小靈敏度值和最大靈敏度值進行加權平均，計算出所述問題器件參數的修改參考值。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述問題器件參數的修改方向、修改范圍和修改參考值，確定所述問題器件的新的器件參數值的步驟具體包括：

將所述問題器件參數修改的最大值和最小值設定為優化邊界；

以所述問題器件的參數修改參考值作為初值，以區域內微擾動產生若干候選解；

以模擬集成電路的實際性能和設計的目標性能之間的相對差構成求解最小值的目標函數；

以優化算法擾動參數值變化尋找最小目標函數值，并將所述最小目標函數值對應的器件參數值設為所述問題器件的新的器件最優參數值。