[發(fā)明專利]信息存儲讀出運算系統(tǒng)及其制造方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010229441.0
• 申請日: 2010-07-09
• 公開（公告）號: CN102043277A
• 公開（公告）日: 2011-05-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 中園拓矢;梅本清司;島江文人
• 申請（專利權(quán)）人: 日東電工株式會社
• 主分類號: G02F1/1335
• 分類號: G02F1/1335;G02F1/13
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 岳雪蘭

1.一種信息存儲讀出運算系統(tǒng)，其用于連續(xù)制造液晶顯示元件的裝置，該裝置將從連續(xù)狀光學(xué)膜的層積體卷筒切出成為與液晶面板的長邊或短邊對應(yīng)的規(guī)定長度的薄片與液晶面板貼合來連續(xù)制造液晶顯示元件，該連續(xù)狀光學(xué)膜包含：具有與形成規(guī)定尺寸的液晶面板的長邊或短邊對應(yīng)的寬度的包含粘接層的連續(xù)狀偏光膜和自由剝離地層積于所述粘接層的連續(xù)狀載體膜，該信息存儲讀出運算系統(tǒng)的特征在于，包括：

信息存儲介質(zhì)，其存儲通過對連續(xù)狀光學(xué)膜所包含的連續(xù)狀偏光膜的檢查而檢測出的疵點的位置信息；

層積體卷筒，其是標(biāo)記了識別標(biāo)識的完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜的層積體卷筒；以及

切斷位置運算機構(gòu)，其使用基于所述識別標(biāo)識從所述信息存儲介質(zhì)讀出的所述疵點的位置信息和基于自所述層積體卷筒放出所述完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜時的放出量而算出的長度測量數(shù)據(jù)，來確定劃定包含疵點的不良薄片的不良薄片切斷位置和劃定不包含疵點的正常薄片的正常薄片切斷位置；

由此，在連續(xù)制造液晶顯示元件的裝置中，基于所述不良薄片切斷位置和所述正常薄片切斷位置，在所述完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜上，在相對所述完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜的輸送方向成直角的方向，自與連續(xù)狀載體膜相反的一側(cè)切割至到達連續(xù)狀載體膜的粘接層側(cè)的面的深度，從而能夠切出正常薄片。

2.如權(quán)利要求1所述的信息存儲讀出運算系統(tǒng)，其特征在于，完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜還包含有自由剝離地層積于連續(xù)狀偏光膜的不是粘接層側(cè)的面的連續(xù)狀表面保護膜。

3.一種制造信息存儲讀出運算系統(tǒng)的方法，該信息存儲讀出運算系統(tǒng)用于連續(xù)制造液晶顯示元件的裝置，該裝置將從連續(xù)狀光學(xué)膜的層積體卷筒沿相對長度方向成直角方向的線進行切割而切出成為與液晶面板的長邊或短邊對應(yīng)的規(guī)定長度的薄片，與液晶面板貼合來連續(xù)制造液晶顯示元件，該連續(xù)狀光學(xué)膜包含：具有與形成規(guī)定尺寸的液晶面板的長邊或短邊對應(yīng)的寬度的包含粘接層的連續(xù)狀偏光膜和自由剝離地層積于所述粘接層的連續(xù)狀載體膜，

該方法的特征在于，包含如下步驟：

向連續(xù)狀偏光片的至少一個面層積連續(xù)狀保護膜來制造連續(xù)狀偏光膜，對連續(xù)狀偏光膜進行檢查來檢測連續(xù)狀偏光膜內(nèi)在的疵點，經(jīng)由粘接層將連續(xù)狀載體膜自由剝離地層積于連續(xù)狀偏光膜來制造完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜，生成用于識別所述完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜的識別標(biāo)識并將其標(biāo)記于所述完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜，將標(biāo)記有所述識別標(biāo)識的所述完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜卷繞成卷筒狀，從而制造標(biāo)記有識別標(biāo)識的完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜的層積體卷筒的步驟；

將通過進行檢查而檢測出的疵點的位置信息存儲到預(yù)先準(zhǔn)備的信息存儲介質(zhì)來制造存儲有疵點的位置信息的信息存儲介質(zhì)的步驟；

提供切斷位置運算機構(gòu)的步驟，該切斷位置運算機構(gòu)構(gòu)成為，使用基于所述識別標(biāo)識從所述信息存儲介質(zhì)讀出的所述疵點的位置信息和基于自所述層積體卷筒放出所述完成檢查的連續(xù)狀光學(xué)膜時的放出量而算出的長度測量數(shù)據(jù)，來確定劃定包含疵點的不良薄片的不良薄片切斷位置和劃定不包含疵點的正常薄片的正常薄片切斷位置。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，制造層積體卷筒的所述步驟還包含有將連續(xù)狀表面保護膜自由剝離地層積于連續(xù)狀偏光膜的不是粘接層側(cè)的面的步驟。

5.如權(quán)利要求3或4所述的方法，其特征在于，制造層積體卷筒的所述步驟包括以下步驟中的任一個或它們的組合：利用反射光主要檢查連續(xù)狀偏光膜表面的步驟；透射從光源照射的光而將連續(xù)狀偏光膜內(nèi)在的疵點作為陰影來檢測的步驟；或?qū)⑦B續(xù)狀偏光膜和偏光濾光片配置成使它們的吸收軸成為正交偏光，向其照射來自光源的光并觀察透射的光，從而將連續(xù)狀偏光膜內(nèi)在的疵點作為亮點來檢測的步驟。